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1、Ga2O3是一種寬禁帶化合物半導(dǎo)體材料。除了優(yōu)異光電特性外,Ga2O3材料還具有良好的熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性。其中,單斜晶系的?-Ga2O3薄膜在深紫外區(qū)域高度透明,其透過(guò)率能達(dá)到80%以上,具有制備深紫外透明導(dǎo)電薄膜的天然優(yōu)勢(shì)。同時(shí),Ga2O3材料還表現(xiàn)出良好的氣敏特性,是制備高溫氧敏器件的候選材料,因而成為當(dāng)前的一個(gè)研究熱點(diǎn)。隨著現(xiàn)代半導(dǎo)體光電探測(cè)技術(shù)的不斷發(fā)展,紅外探測(cè)技術(shù)因紅外線能夠穿透大氣層而受到自然環(huán)境的干擾比較嚴(yán)重,容易發(fā)生
2、虛報(bào)誤報(bào)。而紫外線尤其是日盲紫外(200-280 nm)在進(jìn)入大氣層時(shí)被臭氧層吸收,所以日盲紫外探測(cè)可以消除干擾的顧慮,實(shí)現(xiàn)高效精準(zhǔn)的探測(cè),使其在航天、軍事及民用領(lǐng)域均有廣泛的應(yīng)用需求。
本論文研究了 Ga2O3材料的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、基本性質(zhì)、制備工藝等,并對(duì)其在現(xiàn)代信息技術(shù)材料領(lǐng)域的應(yīng)用進(jìn)行了綜述和展望。磁控濺射是一種低溫高速薄膜沉積工藝,與其他幾種薄膜制備方法比較有成膜質(zhì)量高,成本低的優(yōu)勢(shì)。根據(jù)現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)平臺(tái),采用射頻磁控濺射技
3、術(shù)生長(zhǎng)了 Ga2O3薄膜,并對(duì)樣品進(jìn)行了相關(guān)熱處理,采用 X射線衍射(XRD)、掃描電鏡(SEM)、紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)以及熒光光譜儀等技術(shù)手段分析了?-Ga2O3薄膜的表面形貌、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及光學(xué)性質(zhì)等。研究了制備工藝的變化以及熱處理方法對(duì) Ga2O3薄膜性質(zhì)的影響,得出采用射頻磁控濺射法制備?-Ga2O3薄膜的最優(yōu)工藝參數(shù)。
在制備薄膜的基礎(chǔ)上,采用真空蒸發(fā)法為薄膜制備金屬叉指電極,利用歐姆接觸制成MSM結(jié)構(gòu)探測(cè)器件,利用2
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