基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù).pdf

1、當(dāng)軟件發(fā)生變更時(shí)，如添加新的功能或修正錯(cuò)誤后，就需要進(jìn)行回歸測(cè)試，以確保這些變更不會(huì)對(duì)軟件產(chǎn)生負(fù)面影響。然而頻繁的回歸測(cè)試帶來(lái)的開銷，特別是時(shí)間上的開銷很大，約占軟件維護(hù)總開銷的一半，這就需要對(duì)測(cè)試用例集進(jìn)行優(yōu)化?，F(xiàn)有的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)主要包括測(cè)試用例集選擇技術(shù)和測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)技術(shù)，可以提高測(cè)試用例集的性能，得到了廣泛的應(yīng)用。 通常情況下，回歸測(cè)試都存在一定的時(shí)間限制，而目前絕大多數(shù)的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)沒有考慮到這一點(diǎn)，因此，

2、研究基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)具有重要意義。時(shí)間約束下的測(cè)試用例集優(yōu)化問(wèn)題可以轉(zhuǎn)化為0/1背包問(wèn)題，0/1背包問(wèn)題是經(jīng)典的NP-C問(wèn)題，可以采用多種算法來(lái)求解。本文提出了利用動(dòng)態(tài)規(guī)劃法、回溯法、分支限界法、基本遺傳算法等幾種算法求解時(shí)間約束下的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)及其度量方法，并通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該優(yōu)化技術(shù)及度量方法的有效性。 論文的工作包括以下幾個(gè)方面：（1）針對(duì)基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化問(wèn)題可以轉(zhuǎn)化為經(jīng)典的0/1背包問(wèn)題，

3、給出基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化問(wèn)題的形式化描述，提出用多種算法求解的基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)；（2）提出基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化技術(shù)度量方法，該度量方法綜合考慮了測(cè)試需求的覆蓋率和覆蓋速度，能更公平有效地對(duì)測(cè)試用例集的優(yōu)化效果進(jìn)行度量：（3）以Eclipse為平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了基于時(shí)間限制的測(cè)試用例集優(yōu)化工具T-TSO-Tool，該工具在給出測(cè)試用例和測(cè)試需求的滿足關(guān)系矩陣、測(cè)試需求的優(yōu)先級(jí)、測(cè)試用例的執(zhí)行時(shí)間的前提下，根據(jù)選擇