陣列方向圖綜合方法研究.pdf

1、天線陣的輻射特性決定于陣列的陣元數(shù)目、陣元位置、陣元權(quán)系數(shù)，控制這三個因素可以改變輻射場的特征。陣列方向圖綜合是指按規(guī)定的方向圖要求，用一種或多種方法優(yōu)化影響天線輻射特性的因素，使該天線系統(tǒng)產(chǎn)生的方向圖滿足指標(biāo)要求。如何優(yōu)化影響天線輻射特性的因素，使方向圖滿足指標(biāo)要求是本文研究的主要問題。本文介紹了天線陣基本原理和陣列綜合方法以及模擬退火算法的優(yōu)化原理，在此基礎(chǔ)上給出了兩種陣列方向圖優(yōu)化方法： 非均勻稀布陣有較高的旁瓣，為降低旁

2、瓣，本文提出一種混合算法并將其用于非均勻稀布天線陣列方向圖的優(yōu)化中：用模擬退火算法結(jié)合凸規(guī)劃優(yōu)化陣元位置和陣元激勵幅度。對于一個孔徑為50λ，由25個陣元組成的陣列天線，該方法獲得了比已有文獻更低的旁瓣，而且可以降低運算量。 本文利用近來出現(xiàn)的新體制雷達一多輸入多輸出(MIMO)雷達多發(fā)多收的特點，給出了一種利用模擬退火算法對MIMO雷達天線布陣進行優(yōu)化以及對MIMO雷達天線陣列陣元激勵幅度優(yōu)化的方法。該方法利用MIMO雷達方向