光柵尺高速高精度跨尺度位移測(cè)量方法的研究.pdf

1、隨著集成電路(IC)封裝工藝、超精密加工、精密儀器及生物醫(yī)學(xué)工程等眾多領(lǐng)域的不斷發(fā)展，與之相關(guān)的設(shè)備對(duì)運(yùn)動(dòng)速度、定位精度的要求越來(lái)越高，因此高速高精度定位技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中起到十分關(guān)鍵的作用。
　　光柵尺具有精度高、抗干擾能力強(qiáng)、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，成為納米位移測(cè)量的主要工具，但由于受光路結(jié)構(gòu)及信號(hào)檢測(cè)電路掃描頻率等因素的限制，光柵尺測(cè)量的最大允許移動(dòng)速度與其測(cè)量步距成反比。針對(duì)高速高精度定位系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)特性及光柵尺測(cè)量高速位移時(shí)難以實(shí)

2、現(xiàn)高分辨力的問(wèn)題，本文提出了適合高速且實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)末端點(diǎn)高分辨力位移測(cè)量的新方法——基于單光柵尺的跨尺度位移測(cè)量方法。
　　首先，在分析光柵線性位移測(cè)量原理、光柵測(cè)量系統(tǒng)誤差尤其是計(jì)數(shù)值切換合成誤差的基礎(chǔ)上，本文重點(diǎn)研究了光柵尺切換合成原理，分析了光柵尺跨尺度測(cè)量方法的可行性，設(shè)計(jì)了實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)值切換合成的硬件電路，完成了基于可編程芯片F(xiàn)PGA的光柵信號(hào)處理模塊設(shè)計(jì)。
　　其次，對(duì)光柵測(cè)量系統(tǒng)的誤差源進(jìn)行了分析，根據(jù)誤差特性使用三種

3、建模方法：多項(xiàng)式曲線擬合方法、分段線性插值方法和三次樣條插值方法，對(duì)以上三種模型進(jìn)行了理論分析，通過(guò)MATLAB語(yǔ)言及其工具箱環(huán)境進(jìn)行了計(jì)算機(jī)仿真計(jì)算，通過(guò)比較三者的精度，分段線性插值的精度最高，且穩(wěn)定性好，所以使用分段線性插值方法對(duì)光柵測(cè)量系統(tǒng)的末端定位點(diǎn)進(jìn)行了測(cè)量誤差補(bǔ)償實(shí)驗(yàn)。
　　最后，搭建了硬件實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，對(duì)本測(cè)量原理與方法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。通過(guò)對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析，驗(yàn)證了光柵尺跨尺度測(cè)量方法的可行性和有效性。在實(shí)驗(yàn)中總結(jié)了一些經(jīng)驗(yàn)