巖土工程勘察報(bào)告

1、11.0 概述 概述1.1 1.1 工程概況 工程概況受 xxxxx 的委托，河南省地礦建設(shè)工程(集團(tuán))有限公司承擔(dān)其擬建的xxxx 的巖土工程詳勘階段的勘察工作。擬建場(chǎng)地位于 xxxx 南側(cè)，xxx 東側(cè)。本期擬建建筑物為 1 棟 17 層孵化中心、2 棟 2 層建筑具體工程特征如下表 1-1。建筑物工程特征一覽表 表 1.1工程名稱 孵化中心 多層建筑建筑物層數(shù) 17 2基礎(chǔ)埋深(m) 7.0 6.8基底壓力(kN/

2、m2) 300單柱荷載（kN） 3600結(jié)構(gòu)型式 框架剪力墻 框架地基基礎(chǔ)形式 筏板基礎(chǔ) 獨(dú)立基礎(chǔ)或筏板基礎(chǔ)為滿足工程設(shè)計(jì)和施工需要，需對(duì)工程場(chǎng)地進(jìn)行詳勘階段的巖土工程勘察。1.2 1.2 勘察目的與任務(wù) 勘察目的與任務(wù)本次勘察集初勘和詳勘一次性進(jìn)行，目的是為工程設(shè)計(jì)和施工提供詳細(xì)的巖土工程資料和設(shè)計(jì)、施工所需的巖土參數(shù)；對(duì)建筑地基作出巖土工程評(píng)價(jià)，并對(duì)地基類型、基礎(chǔ)形式、地基處理、基坑支護(hù)、工程降水和不良地質(zhì)作用的防治等提出建議。主要

3、進(jìn)行以下工作：1.查明工程場(chǎng)地地基土的巖性、時(shí)代成因及空間分布特征，提供設(shè)計(jì)所需的各層土物理力學(xué)性質(zhì)指標(biāo)，分析和評(píng)價(jià)地基的穩(wěn)定性、均勻性和承載力。2.查明工程場(chǎng)地不良地質(zhì)作用的成因、類型、分布范圍及其對(duì)場(chǎng)地穩(wěn)定性影響，預(yù)測(cè)其發(fā)展趨勢(shì)，并提出防治措施及有關(guān)技術(shù)參數(shù)。3．查明埋藏的河道、溝浜、墓穴、防空洞、孤石等對(duì)工程不利的埋藏物。4.查明地下水類型、埋藏條件，含水層特征等，提供地下水位及變幅深3《建筑樁基技術(shù)規(guī)范》(JGJ 94-2008

4、)《建筑地基處理技術(shù)規(guī)范》(JGJ 79-2002)《建筑基坑支護(hù)技術(shù)規(guī)程》(JGJ 120-99)《靜力觸探技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》（CECS04：88）《建筑工程地質(zhì)鉆探技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》（JGJ 87-92）《原狀土取樣技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》(JGJ 89-92)《土工試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》(GB/T 50123-1999)本工程設(shè)計(jì)勘察設(shè)計(jì)任務(wù)書(shū)。1.4.2 勘察工作布置依據(jù)“GB 50021-2001”規(guī)范及“JGJ72-2004”規(guī)程,對(duì)于二級(jí)（中等復(fù)雜）地基，其

5、詳細(xì)勘察勘探點(diǎn)間距宜為 15.0～30.0m,結(jié)合建筑物結(jié)構(gòu)及荷載特點(diǎn)，勘探點(diǎn)位置沿建筑物角點(diǎn)、周邊和網(wǎng)格布置。對(duì)擬建高層部分：控制性孔深為 45.0m，一般性孔深 30.0m；對(duì)于擬建多層部分：控制孔深為20.0m，一般孔深 15.0m?？组g距均小于 30.0m，勘探孔類型主要為取土鉆孔、標(biāo)貫孔、探井和靜力觸探孔。1.4.3 勘探測(cè)試和取土方法簡(jiǎn)述為準(zhǔn)確測(cè)定有關(guān)巖土參數(shù)及相關(guān)勘察評(píng)價(jià)指標(biāo)，以針對(duì)性、實(shí)用性為原則，綜合采用鉆探、靜探、標(biāo)

6、貫、探井、波速測(cè)試、室內(nèi)試驗(yàn)等多種勘察手段開(kāi)展本次勘察工作。（1）鉆探采用 DPP-100 型車裝鉆機(jī)進(jìn)行施工，目的是查明地層結(jié)構(gòu)及分布規(guī)律，回轉(zhuǎn)鉆進(jìn)，泥漿護(hù)壁，全部采芯，粘性土巖芯采取率不低于 90%，砂土層巖芯采取率不低于 75%，并觀察記錄各土層宏觀特征，通過(guò)對(duì)不同深度的土體采樣分析試驗(yàn)，確定地基土承載力及其物理力學(xué)性質(zhì)指標(biāo)。（2）靜探靜力觸探采用原裝 20T 液壓靜力觸探雙橋探頭測(cè)試，微機(jī)自動(dòng)采集信息，經(jīng)處理后繪制單孔靜力觸探曲