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1、序號(hào) 物料名稱 圖片 測(cè)試方法 推力標(biāo)準(zhǔn)Kgf1 0402 器 件1.消除阻礙 0402 元器件邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥0.552 0603 器 件1.消除阻礙 0603 元器件邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥1.003 0805 器 件1.消
2、除阻礙 0805 元器件邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥2.104 1206 器 件1.消除阻礙 1206 元器件邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥2.505 SIM 卡連 接器1.消除阻礙 SIM 卡連接器邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,
3、≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥4.006 SOT231.消除阻礙 SOT23 元器件邊緣的其它元器 件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥1.507 SOP5 IC1.消除阻礙 SOP5 IC 元器件邊緣的其它元 器件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是
4、否脫焊≥2.008 SPO6 IC1.消除阻礙 SOP6 IC 元器件邊緣的其它元 器件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn);≥2.0018多腳芯片 (8 腳及 以上)1.消除阻礙芯片邊緣的其它元器件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn); 3.當(dāng)推力計(jì)達(dá)到推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),檢查元器件 是否脫焊≥2.0019 BGA 芯片1.消除阻礙芯片邊緣的其它元器件2.選用推力計(jì),將儀器歸零,≤30 度角 進(jìn)行推力試驗(yàn);
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