瞬變電磁數(shù)據(jù)處理流程

1、瞬變電磁數(shù)據(jù)處理流程新 建 工 程輸 入 工 程 名 稱設(shè) 置 工 程 路 徑鏈 接 原 始 數(shù) 據(jù)測線 拆分 組合道 參 設(shè) 置屏 蔽 校 正圓 滑 處 理晚期 電阻 率計 算輸 出 結(jié) 果修 改 測 點 號修 改 x 坐 標(biāo)修 改 發(fā) 射 匝 數(shù)修 改 接 收 匝 數(shù)設(shè) 置 校 正 類 型校 正 測 點 選 擇背 景 測 點 選 擇設(shè) 置 開 始 測 道輸 入 電 阻 率 系 數(shù)輸 入 深 度 系 數(shù)保 存 計 算 結(jié) 果結(jié) 果 輸

2、 出 絕 對 坐 標(biāo)Sufer 成 圖說明 說明1、 新建工程：新建工程后即可將儀器導(dǎo)出的“.$$$”格式的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為 MTEM 軟件可讀取的“.MTE”格式的工程文件。2、 測線拆分與組合：（1）將采集的原始數(shù)據(jù)的廢點數(shù)據(jù)剔除 （2）將不同測線采集的數(shù)據(jù)拆分開，然后對不同的測線進行重新命名 3、 道參設(shè)置：道參設(shè)置時需要對每條測線的道參進行設(shè)置，選中所需要處理的測線進行道參設(shè)置，道參設(shè)置時需要修改的參數(shù)分別如下所示：（1）測點號：

3、將測點號按照 1、2、3……的順序依次排列 （2）x 坐標(biāo)：按照實測測點點間距進行設(shè)置 （4）發(fā)射匝數(shù)：9 （5）接收匝數(shù)：184、屏蔽校正：屏蔽校正的作用是將受“金屬物”干擾的測點以鄰近沒有收到干擾的測點為背景值進行校正，校正的原則是多個測點對一個測點或多個 測點對多個測點校正。屏蔽校正時需要設(shè)置的參數(shù)具體如下：（1）校正類型：“均值與均值” （2）校正測點：分別輸入現(xiàn)場記錄中受“金屬物”干 擾開始測點與結(jié)束測點的點號（3）背景值測點

4、：分別輸入受干擾測點的鄰近的幾個測點的開始測點號與結(jié)束測點號5、圓滑處理：當(dāng)某個測點出現(xiàn)電位畸變即電位衰減曲線不是很平滑時需要對該測點進行平滑處理。 6、晚期電阻率計算：晚期電阻率計算即對所采集的不同測點進行電阻率極其對應(yīng)深度的計算，該模塊運行時需要輸入的參數(shù)如下：（1）開始測道： 12~14 （2）結(jié)束測道：40 （3）電阻率系數(shù)：10000 （4）深度系數(shù)：30~70 （5）保存計算結(jié)果：勾選該選項后然后點“…”按鈕設(shè)置計算好的“.

5、dat””格式 數(shù)據(jù)的路徑（6）結(jié)果輸出絕對值坐標(biāo)：勾選該選項后輸出的“.dat””格式中 Y 坐標(biāo)即深度數(shù)值為正值，不勾選該選項后輸出的 Y 值為負(fù)值，底板探測 時一般不勾選該選項。瞬變電磁數(shù)據(jù)處理流程新 建 工 程輸 入 工 程 名 稱設(shè) 置 工 程 路 徑鏈 接 原 始 數(shù) 據(jù)測線 拆分 組合道 參 設(shè) 置屏 蔽 校 正圓 滑 處 理晚期 電阻 率計 算輸 出 結(jié) 果修 改 測 點 號修 改 x 坐 標(biāo)修 改 發(fā) 射 匝 數(shù)修 改

6、 接 收 匝 數(shù)設(shè) 置 校 正 類 型校 正 測 點 選 擇背 景 測 點 選 擇設(shè) 置 開 始 測 道輸 入 電 阻 率 系 數(shù)輸 入 深 度 系 數(shù)保 存 計 算 結(jié) 果結(jié) 果 輸 出 絕 對 坐 標(biāo)Sufer 成 圖說明 說明1、 新建工程：新建工程后即可將儀器導(dǎo)出的“.$$$”格式的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為 MTEM 軟件可讀取的“.MTE”格式的工程文件。2、 測線拆分與組合：（1）將采集的原始數(shù)據(jù)的廢點數(shù)據(jù)剔除 （2）將不同測線采集的

7、數(shù)據(jù)拆分開，然后對不同的測線進行重新命名 3、 道參設(shè)置：道參設(shè)置時需要對每條測線的道參進行設(shè)置，選中所需要處理的測線進行道參設(shè)置，道參設(shè)置時需要修改的參數(shù)分別如下所示：（1）測點號：將測點號按照 1、2、3……的順序依次排列 （2）x 坐標(biāo)：按照實測測點點間距進行設(shè)置 （4）發(fā)射匝數(shù)：9 （5）接收匝數(shù)：184、屏蔽校正：屏蔽校正的作用是將受“金屬物”干擾的測點以鄰近沒有收到干擾的測點為背景值進行校正，校正的原則是多個測點對一個測點或

8、多個 測點對多個測點校正。屏蔽校正時需要設(shè)置的參數(shù)具體如下：（1）校正類型：“均值與均值” （2）校正測點：分別輸入現(xiàn)場記錄中受“金屬物”干 擾開始測點與結(jié)束測點的點號（3）背景值測點：分別輸入受干擾測點的鄰近的幾個測點的開始測點號與結(jié)束測點號5、圓滑處理：當(dāng)某個測點出現(xiàn)電位畸變即電位衰減曲線不是很平滑時需要對該測點進行平滑處理。 6、晚期電阻率計算：晚期電阻率計算即對所采集的不同測點進行電阻率極其對應(yīng)深度的計算，該模塊運行時需要輸入的