實驗室用電氣控制設(shè)備一般安全方案、隔離邊界系統(tǒng)圖、二次電路歷史技術(shù)、資料文檔使用相關(guān)性、電氣間隙和爬電距離測量

1、GB/T XXXXX.18—XXXX/IEC 61010-2-201:201729附 錄 E（資料性）降低污染等級的導(dǎo)則代替：設(shè)備內(nèi)部的微環(huán)境是由設(shè)備在運行、 安裝和維護中所處的環(huán)境條件， 以及由設(shè)備自身和使用的密封措施有效性產(chǎn)生的污染決定的。設(shè)備可以被劃分為表E.1中所示環(huán)境情況。表 E.1 環(huán)境情況環(huán)境情況 設(shè)備運行在 設(shè)備安裝或維護在A 受控環(huán)境a 受控環(huán)境B 非受控環(huán)境 受控環(huán)境，或者在安裝或維護過程中設(shè)備沒有打開C 非受控環(huán)境

2、 非受控環(huán)境a 受控環(huán)境是指 GB/T XXXXX.1 的 1.4.1 c)和 d)條件的環(huán)境。注：表E.1中環(huán)境情況為設(shè)備是否被暴露和由于安裝和維護被打開提供了環(huán)境系統(tǒng)分類。表E.2 給出使微環(huán)境污染等級降低的方法。 當(dāng)設(shè)備受到沉降或本身產(chǎn)生污染物， 污染等級可能不降低。表 E.2 污染等級的降低最初的污染等級 最初的污染等級2 3 4環(huán)境條件 (表 E.1)A B C B C B C附加防護 帶附加防護的防護等級 帶附加防護的防護等

3、級IPx4 的外殼 — — — — — — —IPx5, IPx6 的外殼 1 — — — — — —IPx7, IPx8 的外殼 1 1 — 2a,b — 2a,b —在 IPx4 或更高等級外殼設(shè)備中的恒定加熱 1 — — — — — —密封外殼 1 1 1 1 1 1 1注1：最大降低到污染等級1。注2：污染等級3和污染等級4不認(rèn)為是受控環(huán)境。注3：降低措施被認(rèn)為是替代選擇。注4：基于IEC 60529的IP等級。GB/T XXX

4、XX.18—XXXX/IEC 61010-2-201:201731附 錄 F（規(guī)范性）例行試驗除下述內(nèi)容外，GB/T XXXXX.1 的附錄 F 適用。F.2 保護接地修改：段落和注之間增加：電阻應(yīng)不超過0.1Ω。F.3.1 概述增加：如果供電電壓等于或者小于 GB/T XXXXX.1的6.3.1 a)中的規(guī)定，則不需要進行試驗。F.4 浮地電路增加：如果供電電壓等于或者小于 GB/T XXXXX.1的6.3.1 a)中的規(guī)定，則不需要

5、進行試驗。F.101 除電網(wǎng)電源和浮動電路以外的供電電路這些是不在F.3和F.4中定義的供電電路。試驗電壓被施加在以下a)和b)之間：a) 供電電路，和b) 與 a)中供電短路隔離的所有其他電路的所有輸入和輸出端子，連接在一起；試驗過程中，控制設(shè)備應(yīng)與其他外部接地電氣隔離。試驗不施加在小金屬零部件例如銘牌、螺絲或鉚釘，正常情況下他們不連接到電路。試驗電壓可以是交流或直流或脈沖，根據(jù)適用的過電壓類別從GB/T XXXXX.1的表F.1中選