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1、該文即以衰減全反射結(jié)構(gòu)為研究?jī)?nèi)容,在對(duì)衰減機(jī)制的理論研究基礎(chǔ)上,提出用這一結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)一種新型實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng)的思想,我們稱之為"實(shí)時(shí)薄膜分析系統(tǒng)",該文對(duì)這種系統(tǒng)功能的實(shí)現(xiàn)方案進(jìn)行了探討,對(duì)器件性能指標(biāo)進(jìn)行了考察和分析,并嘗試著這種探測(cè)系統(tǒng)的各種不同應(yīng)用. 與傳統(tǒng)的掃描型ATR探測(cè)方法相比,該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)用帶有一定角寬度的光束代替原有的角度掃描,從而在微機(jī)屏幕上可同時(shí)顯示標(biāo)志波導(dǎo)模式的一組黑線,外界的工作條件變化,會(huì)導(dǎo)致黑線的移動(dòng),根據(jù)黑線的移
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