不同條件下片式固體電解質(zhì)鉭電容器擊穿失效機理及耐壓性能研究.pdf

1、片式固體電解質(zhì)鉭電容器因其體積小、容量大、漏電流小、溫度和頻率特性好、可靠性高、壽命長等優(yōu)點在電子裝備中一直有著廣泛的應(yīng)用，然而，因為耐壓性能的要求一再提高，伴著市場的大量應(yīng)用呈現(xiàn)各種的質(zhì)量原因，此中憑據(jù)數(shù)據(jù)分析以擊穿失效居多，鉭電容器擊穿失效以成為制約片式鉭電容器在高可靠性領(lǐng)域一大阻礙。
　　目前大部分的片式固體電解質(zhì)鉭電容器失效是與其生產(chǎn)工藝過程和使用方法密切相關(guān)，而作為電子元器件生產(chǎn)廠家，盡可能分析鉭電容器擊穿原因及耐壓性能

2、，達到提高片式固體電解質(zhì)鉭電容器的可靠性成為我們迫在眉睫的研究內(nèi)容。片式固體電解質(zhì)鉭電容器之所以獲得普遍的應(yīng)用，除了鉭電容器中鉭及其氧化膜高度的物理化學(xué)穩(wěn)定性、電容量大、溫度特性好等優(yōu)點外，一個重要的優(yōu)點是這種片式鉭電容器閃火擊穿時會呈現(xiàn)自愈而恢復(fù)正常，同時二氧化錳可以在五氧化二鉭因氧遷移使漏電流增大時為其補充氧原子、維持五氧化二鉭分子的穩(wěn)定性，從而有維持漏電流的穩(wěn)定，保證電容器的可靠性。
　　片式鉭電容器在出廠前的篩選、試驗、測

3、試過程中發(fā)生的閃火擊穿自愈是否會對可靠性產(chǎn)生影響，能否通過特殊的測試手段剔除閃火擊穿自愈的產(chǎn)品，我廠采用的恒流二極管老化技術(shù)是否會有利于自愈的發(fā)生，該項篩選工藝技術(shù)的采用是否會對產(chǎn)品全生命周期的穩(wěn)定性和可靠性造成影響，近年來產(chǎn)品貯存后發(fā)生漏電流大、短路、耐濕試驗短路等問題是否與該項技術(shù)的采用有直接關(guān)聯(lián)，目前均沒有進行過深入的研究。
　　通過本文研究，獲得了閃火自愈及對片式鉭電容器可靠性影響的重要結(jié)論，主要有片式鉭電容器的閃火擊穿電

4、壓隨充電電流和溫度的上升呈下降趨勢，同時根據(jù)數(shù)據(jù)分析和理論分析判斷恒流二極管老化技術(shù)容易導(dǎo)致片式鉭電容器擊穿后自愈，影響后續(xù)使用可靠性。通過對閃火自愈和未經(jīng)閃火自愈兩組產(chǎn)品可靠性對比試驗數(shù)據(jù)分析，閃火自愈產(chǎn)品在通過高溫、耐溶劑、威布爾加速壽命等可靠性后呈現(xiàn)出明顯高的失效概率，證明生產(chǎn)、篩選過程中的閃火自愈現(xiàn)象對片式鉭電容器長期工作可靠性具有一定的不良影響，建議取消恒流二極管老煉這一不利于淘汰不良產(chǎn)品的工藝。
　　通過本論文研究，提