電子設備EFT測試與性能分析.pdf

1、在目前的電子產品中，大都存在著各種各樣的電磁干擾。這些電磁干擾不僅影響到電子設備的正常工作，而且會造成電子設備中某些元器件的損害，降低了電子設備的EMC性能。本文從電快速瞬變脈沖群試驗(EFT)出發(fā)，探討了EFT對電子設備性能的影響。
　　 本文首先從系統級EFT試驗和IC級EFT試驗兩方面出發(fā)，詳細介紹了EFT實驗的一些基礎知識，對電快速瞬變脈沖群的測試方法和測試系統進行詳細的介紹，并且給出了測試系統的搭建標準和實例。

2、　　 其次對電快速瞬變脈沖群從其頻譜、耦合機理、干擾途徑、實現抗EFT干擾的措施手段等方面分別進行了介紹和探討。在進行芯片的EFT測試前，分析了芯片的技術資料，進行IC級電磁兼容測試板的設計與制作。
　　 然后對設備和芯片分別進行了系統級和IC級的EFT測試。根據測試數據和電路原理圖，分析了設備和芯片的失效原因。
　　 一方面對設備的控制板PCB進行干擾分析，在布局布線等版圖優(yōu)化和電路設計方面提出了一系列的整改意見；對

3、整個設備的接地方式進行了分析，找出了接地所存在的電磁兼容風險；還對電源輸入端口干擾抑制和設備中的光電隔離問題進行了分析，提出了整改措施；同時還給出了軟件設計抗擾方面的參考方案。
　　 另一方面對試驗芯片進行失效分析，分析了EFT對芯片所造成的損傷，提出了一種對慢速干擾信號起作用的EFT保護電路，并進行了仿真優(yōu)化，并且總結了一些版圖上和電路上常用的防止和抑制芯片Latch up現象的有效措施。
　　 最后，對整改后的設備和