FDd-LTE終端射頻快速測(cè)試方法.pdf

1、為了滿足FDD-LTE終端市場(chǎng)需求產(chǎn)出，提高FDD-LTE終端生產(chǎn)測(cè)試效率，本文對(duì)FDD-LTE終端的射頻生產(chǎn)測(cè)試方法進(jìn)行了細(xì)致的研究，實(shí)現(xiàn)了快速測(cè)試，取得了一些研究成果。
　　首先提出終端FDD-LTE射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。針對(duì)工廠大批量生產(chǎn)，提出FDD-LTE射頻自動(dòng)測(cè)試所需的硬件環(huán)境搭建、軟件架構(gòu)實(shí)現(xiàn)、數(shù)據(jù)庫(kù)模型設(shè)計(jì)等一整套方案。硬件環(huán)境上采用羅德斯瓦茨的無(wú)線綜合測(cè)試儀CMW500，配備安捷倫66319B高精密可編程電源和射

2、頻測(cè)試夾具。軟件架構(gòu)上為儀器的擴(kuò)展預(yù)留了接口，且具備靈活配置的特性，有利于測(cè)試調(diào)試和工廠權(quán)限管理。采用SQLServer2008作為數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器，為數(shù)據(jù)分析、生產(chǎn)過(guò)程追溯和工位管控提供了基本的保障。
　　通過(guò)研究LTE的基礎(chǔ)知識(shí)和關(guān)鍵技術(shù)，對(duì)LTE的行業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行學(xué)習(xí)，尤其是發(fā)射和接收關(guān)鍵項(xiàng)目和指標(biāo)的測(cè)試步驟和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)模式的射頻常規(guī)測(cè)試。介紹了常規(guī)的測(cè)試項(xiàng)目，例如:發(fā)射機(jī)的最大輸出功率和頻率誤差，接收機(jī)的參考靈敏度

3、。
　　對(duì)終端FDD-LTE射頻快速測(cè)試進(jìn)行了研究。在實(shí)現(xiàn)基本的FDD-LTE射頻測(cè)試后，介紹了射頻校準(zhǔn)和綜測(cè)提高速度的幾種辦法。射頻校準(zhǔn)通過(guò)芯片廠商和儀器之間的配合和同步，并且借用時(shí)隙/幀結(jié)構(gòu)，避免計(jì)算機(jī)和手機(jī)、計(jì)算機(jī)和儀器之間來(lái)回切換，大幅度地提高了校準(zhǔn)效率。射頻綜測(cè)則從信令方式改為非信令，減少空中協(xié)議的注冊(cè)和連接時(shí)間。射頻綜測(cè)項(xiàng)目也可以借用時(shí)隙/幀結(jié)構(gòu)，把測(cè)試項(xiàng)目從串行測(cè)試的方式改為并行方式。
　　對(duì)快速測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)