基于ANSYS的磁頭動(dòng)態(tài)飛高裝置性能的有限元分析.pdf

1、隨著現(xiàn)代存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展，硬盤存儲(chǔ)密度需進(jìn)一步提高，這就使得磁頭的飛行高度要進(jìn)一步降低。為了達(dá)到這一要求，動(dòng)態(tài)飛行高度裝置(DFHD)應(yīng)運(yùn)而生。作為一種新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，其主要工作原理是通過電流產(chǎn)生的熱場分布轉(zhuǎn)化成結(jié)構(gòu)變形，進(jìn)而降低磁頭飛行高度。
　　動(dòng)態(tài)飛高裝置可以控制磁頭飛行高度，但受熱作用會(huì)對(duì)磁頭的使用壽命和對(duì)讀/寫性能的可靠性造成影響。南于其尺寸相當(dāng)小，采用傳統(tǒng)模型進(jìn)行分析很難得到進(jìn)行可靠性研究的相關(guān)參數(shù)，采用有限元的分析方法可

2、以解決這個(gè)難題。
　　論文介紹了硬盤基本構(gòu)造和磁頭的讀/寫工作原理，分析了動(dòng)態(tài)飛高裝置對(duì)讀/寫性能的影響，利用布萊克準(zhǔn)則進(jìn)行壽命預(yù)測的方法得到結(jié)構(gòu)最容易在溫度最高和電流密度最大的部位失效。論文分析了磁頭的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，采用ANSYS有限元分析軟件，利用參數(shù)化設(shè)計(jì)語言實(shí)現(xiàn)磁頭動(dòng)態(tài)飛高裝置有限元建模。設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方法確定了作為熱分析邊界條件用的對(duì)流系數(shù)，對(duì)動(dòng)態(tài)飛高裝置進(jìn)行電-熱耦合分析，得到電流密度和溫度分布的最大值，為更準(zhǔn)確進(jìn)行壽命預(yù)測提供