采用顯微監(jiān)控的可選區(qū)原子力顯微鏡研究.pdf

1、微納米檢測技術越來越成為現(xiàn)在世界科技發(fā)展的前沿之一，對現(xiàn)代科學技術的發(fā)展和社會進步起了非常巨大的推動作用。而掃描隧道顯微鏡(STM)與原子力顯微鏡(AFM)等超高分辨率的儀器已經(jīng)成為納米領域里不可或缺的重要檢測工具，尤其是AFM，因為它不受樣品是否導電的限制而廣泛被應用于微電子學、醫(yī)學、生物學、物理學、化學與精密機械及微納米技術等領域。
　　目前，世界上大多數(shù)傳統(tǒng)的AFM，都沒有顯微監(jiān)控單元。但是AFM的微懸臂（探針）尺寸非常小，

2、無法使用肉眼直接觀察;另外樣品被掃描的區(qū)域也十分微小，同樣需要在掃描前預先選定一個大致的掃描范圍。沒有顯微監(jiān)控單元，掃描時樣品表面狀況和探針逼近樣品的過程都不可見，在選擇掃描區(qū)域和控制探針樣品逼近過程時存在很大的盲目性。如果探針針尖正好在樣品表面的疵點上掃描，結(jié)果只能獲得錯誤的表面信息;或者在探針—樣品盲目進給過程中，很可能會折斷探針或者對樣品表面造成劃傷。因而它們在性能和技術指標方面均存在局限性。為此，本文發(fā)展了一種新型采用顯微監(jiān)控的

3、可選區(qū)原子力顯微鏡新方法。并在此基礎上研制出了一套可選區(qū)AFM系統(tǒng)，包括顯微監(jiān)控單元和新型光束偏轉(zhuǎn)法檢測系統(tǒng)以及步進電機等部分。該系統(tǒng)采用顯微監(jiān)控單元和AFM掃描部分緊湊集成的方法，在保證最佳光杠桿放大比的基礎上，既可以實現(xiàn)樣品高精度微納米檢測，也可同時實現(xiàn)對樣品的特定區(qū)域選擇性掃描和樣品探針逼近過程的監(jiān)控。
　　本文分別從理論方法、系統(tǒng)設計以及實驗技術等各個方面對此AFM系統(tǒng)進行了詳細闡述，本文的主要工作及研究內(nèi)容如下:

4、　　首次提出了一種可提供樣品高精度微納米檢測，也可同時實現(xiàn)對樣品特定區(qū)域選擇性掃描和樣品探針逼近過程監(jiān)控的AFM新方法。該新方法緊密集成了顯微監(jiān)控系統(tǒng)和AFM，在保持納米量級掃描精度的基礎上，可選擇樣品的掃描區(qū)域和監(jiān)控探針—樣品逼近過程，克服了常規(guī)AFM的局限性，為實現(xiàn)掃描與監(jiān)控同步進行提供了新途徑。
　　研究和發(fā)展了一種新型采用顯微監(jiān)控的可選區(qū)原子力顯微鏡系統(tǒng)。主要包括顯微監(jiān)控單元、新型光束偏轉(zhuǎn)法檢測系統(tǒng)以及步進掃描電機等部分。

5、該系統(tǒng)性能良好、運行平穩(wěn)，既可以實現(xiàn)樣品高精度微納米檢測，也可同時實現(xiàn)對樣品特定區(qū)域選擇掃描和探針—樣品逼近過程的監(jiān)控?？赏谖⒓{米加工制備、微納米操控及微納米檢測等領域得到廣泛應用。
　　利用本系統(tǒng)對多種樣品進行了AFM掃描和監(jiān)控實驗研究。包括樣品探針—逼近過程監(jiān)控實驗、樣品選區(qū)掃描實驗，也開展了本系統(tǒng)的小范圍高精度掃描性能測試實驗，得到了良好的實驗結(jié)果。實驗結(jié)果表明，本文研發(fā)的采用顯微監(jiān)控的可選區(qū)原子力顯微鏡系統(tǒng)，具有穩(wěn)定良好