物體表面多反射特性對三維測量結(jié)果影響分析及其改進(jìn)方法.pdf

1、隨著結(jié)構(gòu)光測量技術(shù)的日益成熟，其應(yīng)用范圍也愈加廣泛，從原先的工業(yè)反求，工業(yè)精度檢測等領(lǐng)域，逐漸擴展到文物數(shù)字化、醫(yī)學(xué)、工藝品設(shè)計制造、建筑設(shè)計等等行業(yè)。在這些應(yīng)用過程中，對測量提出了更高的要求，要求能夠完整真實的獲得物體表面的形貌特征，同時不受色彩紋理和物體材質(zhì)的影響。
　　在使用三維掃描設(shè)備進(jìn)行測量時，獲取的物體三維數(shù)據(jù)受到表面紋理、散射、互反射等現(xiàn)象影響，發(fā)生錯誤。本文對面結(jié)構(gòu)光測量過程中的光照影響進(jìn)行了詳細(xì)的分析，對比原有模

2、型，提出新的模型表達(dá)式，找出了數(shù)據(jù)錯誤產(chǎn)生的原因。
　　為了進(jìn)一步探究解決方法，本文對于現(xiàn)有的幾種去除面結(jié)構(gòu)光測量中多次分量影響的方法進(jìn)行了深入分析，并一一設(shè)計實驗?zāi)M驗證，證實了這幾種方法不能達(dá)到完全去除多次分量的目的。
　　受到現(xiàn)有方法的啟發(fā)，本文提出了對于不同種類的多次分量，采用不同頻率的投影圖樣進(jìn)行抑制，同時設(shè)計實驗對其進(jìn)行了驗證。在此基礎(chǔ)上，本文借助邏輯運算等方法，生成了針對不同種類間接分量的高、低頻投影圖樣。為了