浸沒光刻機(jī)浸液溫控實(shí)驗(yàn)裝置設(shè)計(jì)與分析.pdf_第1頁(yè)
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1、浸沒光刻技術(shù)是當(dāng)前集成電路制造比較先進(jìn)的技術(shù),分辨率、套刻精度和產(chǎn)率是其關(guān)鍵性能指標(biāo),而浸沒系統(tǒng)的浸液溫度、壓力和流量是影響其性能指標(biāo)的關(guān)鍵因素之一。本文主要研究浸液溫控實(shí)驗(yàn)裝置的方案和結(jié)構(gòu),為浸沒單元浸液供給系統(tǒng)提供硬件條件。
  論文以浸沒光刻機(jī)填充的浸液為研究對(duì)象,總結(jié)了浸液溫度控制實(shí)驗(yàn)裝置的功能和性能需求,設(shè)計(jì)了浸液溫度控制實(shí)驗(yàn)裝置,模擬輸出了符合要求的浸沒液體。浸液溫控方案中采用了內(nèi)環(huán)+外環(huán)反饋控制模式,內(nèi)環(huán)為流量閉環(huán)反

2、饋控制,通過調(diào)節(jié)冷流體流量來(lái)控制對(duì)象溫度,外環(huán)為溫度閉環(huán)反饋控制,通過算法設(shè)定內(nèi)環(huán)循環(huán)流量。論文基于PLC+PID控制方法,采用內(nèi)循環(huán)+外循環(huán)結(jié)合方式控制UPW,內(nèi)循環(huán)液采用大流量不間斷流經(jīng)熱交換器,外循環(huán)流量送到浸沒單元浸液供給系統(tǒng)。實(shí)驗(yàn)裝置采用兩臺(tái)冷熱恒溫循環(huán)器模擬集成電路廠房的PCW和UPW的溫度、壓力和流量,分析并確定了實(shí)驗(yàn)裝置的詳細(xì)設(shè)計(jì)。
  論文以裝置中關(guān)鍵元件—熱交換器為研究對(duì)象,運(yùn)用FLUENT工具仿真了殼程流場(chǎng)流

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