納米線透明導(dǎo)電薄膜的制備及應(yīng)用.pdf

1、納米銅線材料在光學(xué)以及電學(xué)方面具備優(yōu)良的性能，在化學(xué)、微電子器件以及生物傳感器等領(lǐng)域擁有巨大的使用價(jià)值，因而引發(fā)了人們的普遍重視。本實(shí)驗(yàn)中，我們采用液相還原法，以水合肼為還原劑，乙二胺(EDA)為結(jié)構(gòu)導(dǎo)向劑制備了銅納米線，通過(guò)進(jìn)行一系列正交實(shí)驗(yàn)，探究了各實(shí)驗(yàn)因素對(duì)納米銅線的影響，并且通過(guò)掃描電鏡、透射電鏡、X射線衍射等測(cè)試手段對(duì)納米銅線進(jìn)行了表征。
　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:采用液相還原法制備出的納米銅線未被氧化，在(111)方向上，納米

2、銅線體現(xiàn)出顯著的擇優(yōu)取向生長(zhǎng);影響其長(zhǎng)度和直徑的實(shí)驗(yàn)因素排序是:N2H4·H2O—NaOH—EDA—反應(yīng)溫度。綜合考慮各因素，制備納米銅線的最佳條件為4mLEDA、50mLNaOH、10mL1％的N2H4· H2O、10mL10％的N2H4·H2O、80℃、1小時(shí)。通過(guò)實(shí)驗(yàn)制得的最優(yōu)納米銅線長(zhǎng)度在25μm左右，直徑在150nm左右。
　　目前，柔性的納米銀線透明導(dǎo)電薄膜由于具有導(dǎo)電性能良好、透光率高、耐彎折度高等優(yōu)良性能，因此被視

3、為替代ITO薄膜的理想產(chǎn)品。本實(shí)驗(yàn)中，我們采取簡(jiǎn)便易行的刮涂法制備了以PET為基底的柔性納米銀線透明導(dǎo)電薄膜。通過(guò)SEM、XRD、UV-Vis、四探針測(cè)試儀對(duì)薄膜進(jìn)行了性能的表征，通過(guò)正交實(shí)驗(yàn)探究了各個(gè)實(shí)驗(yàn)條件對(duì)薄膜性能的影響，從而得到優(yōu)化條件。
　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，制備的納米銀線透明導(dǎo)電薄膜耐彎折性能較好，且導(dǎo)電層與基底層的粘附性好，納米銀線層具有較高的本體強(qiáng)度;刮刀厚度對(duì)薄膜的電阻及透光率的影響作用都非常大，熱壓的溫度、壓力以及

4、時(shí)間也會(huì)對(duì)薄膜電阻產(chǎn)生影響，但它們對(duì)于透光率的影響作用非常的小;刮涂法制備出的最優(yōu)的納米銀線透明導(dǎo)電薄膜的阻值是22Ω/□，透光率達(dá)到75％。優(yōu)化條件為:溫度110℃，壓力0.2MPa，時(shí)間10min，刮刀厚度150μm。
　　在制備納米銀線薄膜的基礎(chǔ)上，我們采用光固化和刮涂法結(jié)合，制備了納米銀線叉指電極，希望能夠用它來(lái)替代ITO叉指電極應(yīng)用于電簾除塵領(lǐng)域。并且分析了電簾除塵的機(jī)理，這對(duì)于現(xiàn)今人們重點(diǎn)探索的電簾除塵工藝具有很好的參