單晶銅微觀力學(xué)性能研究.pdf

1、微尺度模擬已成為研究微/納觀領(lǐng)域問(wèn)題的重要方式，而基于微尺度模擬的微觀力學(xué)行為及其力學(xué)性能參數(shù)的研究是深入揭示微/納觀現(xiàn)象和規(guī)律的基礎(chǔ)。
　　本文首先在VC++6.0環(huán)境下基于MFC自行編寫(xiě)單晶銅拉伸及彎曲行為的分子動(dòng)力學(xué)程序。根據(jù)Lennard-Jones勢(shì)建立二維單晶銅理想、中心缺陷和右邊緣缺陷拉伸的分子動(dòng)力學(xué)模型，并對(duì)三種模型力學(xué)性能進(jìn)行對(duì)比分析。分析結(jié)果表明，由于缺陷的影響模型拉伸過(guò)程及斷裂位置是不同的，其中，邊緣缺陷模型

2、的抗拉性能最差，中心缺陷模型次之。其次，通過(guò)鑲嵌原子勢(shì)建立三維單晶銅理想、中心缺陷和右邊緣缺陷彎曲行為的分子動(dòng)力學(xué)模型，并分析其各自的力學(xué)性能。再對(duì)不同模型進(jìn)行對(duì)比，發(fā)現(xiàn)缺陷會(huì)對(duì)微觀材料的彎曲性能產(chǎn)生影響，其中右邊緣缺陷會(huì)使整個(gè)模型彎曲時(shí)柔性增強(qiáng)，而中心缺陷的存在則阻礙了彎曲行為的發(fā)生。
　　基于Lennard-Jones對(duì)勢(shì)，得到原子勢(shì)參數(shù)和平面勢(shì)參數(shù)的關(guān)系，并以此論證Bradley粘附模型和基于Hamaker假設(shè)粘附模型的一致