基于紫外成像法的絕緣子放電檢測(cè)研究.pdf

1、電氣設(shè)備電暈放電會(huì)消耗電能,產(chǎn)生脈沖電磁波對(duì)無線電和高頻通信產(chǎn)生干擾,其生成的氣體還會(huì)使輸變電設(shè)備表面發(fā)生腐蝕,從而降低設(shè)備的使用壽命。紫外成像法因具有方法簡(jiǎn)單、迅速、形象、直觀地優(yōu)點(diǎn)而得到推廣和應(yīng)用。然而,國(guó)內(nèi)外研究人員由于在試驗(yàn)中所使用儀器、增益、距離、環(huán)境等多種因素,往往引起紫外放電測(cè)試結(jié)果的差異。
　　本文在人工氣候試驗(yàn)室模擬了不同類型絕緣子放電,分析了儀器、增益、檢測(cè)距離、視角等非設(shè)備故障缺陷因素對(duì)紫外檢測(cè)的影響。研究表

2、明:同一放電條件下,不同廠家、類型的儀器各自具有獨(dú)特的成像規(guī)律和光子數(shù)計(jì)量特性;光子數(shù)隨著增益的增大先增加,到達(dá)峰值后衰減,光子數(shù)與增益之間的關(guān)系要受到距離、放電強(qiáng)度的影響;光子數(shù)與距離之間也具有復(fù)雜的非線性關(guān)系,而且受到增益影響;紫外檢測(cè)視角從正面到側(cè)面,檢測(cè)到的光子數(shù)基本相同。
　　本文也研究了復(fù)雜外絕緣環(huán)境條件下絕緣子放電紫外成像的特點(diǎn),揭示了絕緣子在污穢、覆冰、淋雨時(shí)的成像規(guī)律和放電機(jī)理。研究發(fā)現(xiàn):絕緣子在污穢條件下放電類

3、型強(qiáng)度受濕度和污穢度影響明顯,染污絕緣子的起暈電壓降低明顯;絕緣子在淋雨?duì)顟B(tài)下起暈電壓下降,有的放電點(diǎn)容易發(fā)生位移,淋雨時(shí)絕緣子傘群邊際聚集的雨滴或雨簾會(huì)使電場(chǎng)發(fā)生畸變,易形成電弧,且有光子受雨水阻隔不能到達(dá)紫外成像儀致使光子數(shù)反而減少的現(xiàn)象;覆冰絕緣子放電受覆冰量影響顯著,覆冰量越重,冰凌橋接的機(jī)率越大,從而起暈電壓降低,電弧更易形成。
　　根據(jù)絕緣子放電成像特點(diǎn)和光子數(shù)計(jì)量,把絕緣子放電分為起暈、穩(wěn)定電暈、刷狀放電、電弧放電四