聚乙烯-蒙脫土納米復(fù)合材料的電樹與局部放電性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、聚合物因在高電場作用下容易產(chǎn)生電樹枝而使它的使用壽命變短，為了提高聚合物的絕緣性能，確保電氣設(shè)備安全運行，人們在聚合物中添加了不同類型的納米粒子。同時，采用局部放電檢測手段對絕緣材料的劣化進(jìn)行診斷。
　　本文以羅氏線圈為基礎(chǔ)搭建了一套局部放電檢測系統(tǒng)。首先，利用MATLAB仿真軟件確定了羅氏線圈的最優(yōu)參數(shù)，根據(jù)最優(yōu)參數(shù)制備了羅氏線圈。然后，利用幅頻特性校驗電路確定了羅氏線圈的實際幅頻特性曲線，帶寬為1MHz至14MHz。利用脈沖發(fā)

2、生器確定了檢測系統(tǒng)的靈敏度為50pC/mV。
　　文中利用局部放電檢測系統(tǒng)對氣體、液體、固體中的放電信號進(jìn)行了檢測，確定他們的放電頻率分別為4.2MHz、4.4MHz和11.5MHz。對不同MMT含量復(fù)合材料進(jìn)行了電樹枝引發(fā)實驗。實驗結(jié)果表明:聚乙烯中電樹枝的長度在生長30min后幾乎不再增加。局部放電總量也會呈現(xiàn)先增大后減小的趨勢，30min時放電總量最大。對外施電壓30min時不同MMT含量復(fù)合材料中電樹枝圖像和相應(yīng)局部放電信

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