硬盤可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)技術(shù)研究.pdf

1、隨著硬盤技術(shù)的突飛猛進(jìn)，硬盤產(chǎn)品越來(lái)越趨向于大容量、高精密、快速度的方向發(fā)展，其中硬盤碟片的磁密度越來(lái)越大，用戶對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求越來(lái)越高，而產(chǎn)品的體積卻越做越小，硬盤系統(tǒng)的可靠性已經(jīng)逐漸成為提高產(chǎn)品質(zhì)量的瓶頸。因此如何解決產(chǎn)品可靠性的強(qiáng)化測(cè)試，使硬盤生產(chǎn)廠商能在出給客戶前更快更好更準(zhǔn)確的篩選出有潛在故障風(fēng)險(xiǎn)的產(chǎn)品，已經(jīng)成為了硬盤加工過(guò)程中的一項(xiàng)重要的課題。
　　本文基于可靠性基礎(chǔ)理論，討論了幾種可靠性增長(zhǎng)模型和可靠性加速模型,針對(duì)

2、硬盤產(chǎn)品本身特性并結(jié)合長(zhǎng)期的生產(chǎn)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),制定了硬盤可靠性框圖和故障樹(shù)，針對(duì)本公司M8硬盤的產(chǎn)品，設(shè)計(jì)了系列的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，對(duì)影響硬盤特性的溫度濕度振動(dòng)等因素進(jìn)行了分別研究，并對(duì)各影響因子進(jìn)行了單獨(dú)的驗(yàn)證和綜合影響驗(yàn)證，找到了適合M8硬盤可靠性強(qiáng)化的試驗(yàn)的系列參數(shù)，并在公司M8硬盤的批量化生產(chǎn)中進(jìn)行了大規(guī)模較長(zhǎng)期的跟蹤測(cè)試和實(shí)踐驗(yàn)證，驗(yàn)證結(jié)果表明，可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)可以激發(fā)出更多的潛在產(chǎn)品故障，為進(jìn)一步產(chǎn)品改進(jìn)和出貨品質(zhì)保證提供依據(jù)。應(yīng)用