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文檔簡介
1、標(biāo)準(zhǔn)化是當(dāng)今測試技術(shù)發(fā)展的趨勢,IEEE1445是數(shù)字電路診斷中一個十分重要的國際標(biāo)準(zhǔn),它為眾多的ATE設(shè)備制造商提供了一個輸入測試碼的通用標(biāo)準(zhǔn),依據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)來設(shè)計和制造自動測試設(shè)備,可以有效的延長ATE的生命周期和擴(kuò)展它的適用范圍.在利用IEEE1445標(biāo)準(zhǔn)來完成電路板的故障診斷時,矢量的約簡是整個測試程序開發(fā)過程中的一個難點.本文在深入研究粗糙集理論的基礎(chǔ)上,提出了利用可辯識矩陣和分辨函數(shù)來提取最小測試集的約簡算法,試驗結(jié)果表明該算法
2、在保證故障覆蓋率的前提下,能夠有效的優(yōu)化測試激勵集.IEEE1445標(biāo)準(zhǔn)共涉及總計39個不同內(nèi)容的數(shù)據(jù)文件,每個文件有自己特定的格式規(guī)范,分別描述了用于電路板診斷所需的詳細(xì)信息,其中包括各種激勵、輸入輸出管腳、故障的名稱、對應(yīng)的輸出模式等信息.這些數(shù)據(jù)文件可組織成4個不同的功能組:UUT模型組、激勵與響應(yīng)組、故障字典組和探針組.本文詳細(xì)的介紹了IEEE1445標(biāo)準(zhǔn)所涉及到的三種診斷方式:端到端、故障字典、探針,而且對這三種診斷方式的診斷
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