基于微觀性能分析的復(fù)合絕緣子老化特性研究.pdf

1、隨著復(fù)合絕緣子在電網(wǎng)中用量的增加，復(fù)合絕緣子的老化問(wèn)題嚴(yán)重威脅到了輸變電線路的可靠穩(wěn)定運(yùn)行，因此對(duì)復(fù)合絕緣子的老化特性進(jìn)行研究具有重要意義。本文在對(duì)復(fù)合絕緣子的宏觀運(yùn)行性能進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析的基礎(chǔ)上，通過(guò)熱刺激電流(TSC)、傅立葉變換紅外光譜(FTIR)和掃描電鏡(SEM)方法對(duì)全國(guó)各地多支110kV電壓等級(jí)復(fù)合絕緣子的微觀性能進(jìn)行測(cè)試分析，初步建立了110kV電壓等級(jí)復(fù)合絕緣子微觀運(yùn)行性能評(píng)估模型。
　　 首先通過(guò)對(duì)南方電網(wǎng)多個(gè)地

2、區(qū)、多個(gè)電壓等級(jí)以及多個(gè)運(yùn)行年限的復(fù)合絕緣子試驗(yàn)的抽檢結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，研究了復(fù)合絕緣子的宏觀運(yùn)行性能。分別從外觀觀察、憎水性測(cè)試、電氣性能和機(jī)械性能測(cè)試四個(gè)方面分析了復(fù)合絕緣子的宏觀運(yùn)行性能，結(jié)果表明抽檢試驗(yàn)只能在一定程度上對(duì)復(fù)合絕緣子的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行評(píng)估，但并不能準(zhǔn)確反映復(fù)合絕緣子的運(yùn)行狀態(tài)。
　　 其次通過(guò)TSC、FTIR和SEM方法三種微觀測(cè)試方法對(duì)復(fù)合絕緣子的老化特性進(jìn)行了初步研究?；谌珖?guó)各地區(qū)16支110kV運(yùn)行復(fù)合

3、絕緣子的微觀性能測(cè)試結(jié)果，本文分析了電場(chǎng)強(qiáng)度、運(yùn)行環(huán)境和運(yùn)行年限對(duì)復(fù)合絕緣子老化程度的影響，結(jié)果表明，試樣高壓端老化速度最快，低壓端次之，中間段最慢;重污區(qū)試樣的老化速度明顯較快，較輕污區(qū)試樣老化速度相對(duì)緩慢;隨著年限的增加，試樣的老化程度呈遞增趨勢(shì)，且遞增曲線可以分為三個(gè)階段:緩慢增長(zhǎng)階段（9年以下）、快速增長(zhǎng)階段(9～13年)、增長(zhǎng)緩慢階段(13年以上);電場(chǎng)強(qiáng)度、運(yùn)行環(huán)境、運(yùn)行年限三種因素對(duì)復(fù)合絕緣子老化程度的影響由強(qiáng)到弱依次為: