基于散斑相關性調(diào)制的散斑干涉測量技術(shù).pdf

1、散斑干涉測量作為光學測量的重要分支，已經(jīng)被廣泛應用在物體表面形變的無損檢測領域。當被測物體形變增大到一定程度時，散斑干涉條紋對比度降低，甚至散斑干涉條紋消失，即出現(xiàn)“退相關”現(xiàn)象。“退相關”影響散斑干涉測量精度以及測量范圍，制約散斑干涉測量技術(shù)的應用。本文提出一種基于散斑相關性調(diào)制的方法，通過在散斑干涉測量系統(tǒng)中放置三次相位板進行相位調(diào)制，增大散斑相關尺寸，提高散斑場的相關性，擴展縱向相干區(qū)域，抑制“退相關”現(xiàn)象的發(fā)生。完成了以下主要研

2、究工作:
　　1.提出并分析了相位編碼調(diào)制抑制散斑場退相關方法及其可行性。在分析散斑場相關性與散斑尺寸關系的基礎上，研究了相位調(diào)制對系統(tǒng)點擴散函數(shù)縱向和橫向的擴展作用，說明相位調(diào)制是通過擴展散斑尺寸而提高散斑場的相關性，從而抑制退相關的工作機理。同時證明了相位調(diào)制不影響干涉測量結(jié)果。
　　2.研究了相位編碼調(diào)制對散斑場相關性的影響。構(gòu)建相位調(diào)制干涉系統(tǒng)模型，依據(jù)光場在自由空間中的傳播規(guī)律及光學元件的相位變換作用，求得像空間散