光電耦合器抗輻射能力噪聲無損評價技術研究.pdf

1、在空間輻射環(huán)境下光電耦合器容易產(chǎn)生損傷，導致可靠性降低、使用壽命縮短，甚至器件和系統(tǒng)會完全失效。光電耦合器作為航天電子系統(tǒng)的重要器件，選用時有必要評價其抗輻射能力。本文通過研究光電耦合器電離輻射損傷機制，分別建立其電離輻射損傷電流傳輸比模型和1/f噪聲模型，優(yōu)選了噪聲靈敏評價參量，建立光電耦合器抗輻射能力噪聲無損評價方法，并探討該方法在篩選中的應用。本文主要完成的工作及得到的結論有：
　　 1.研究了光電耦合器輻射損傷機制，討論

2、了光電耦合器輻射損傷與常規(guī)電參量和噪聲參量之間的相關性，分別建立光電耦合器電離輻射損傷電流傳輸比模型和1/f噪聲模型。
　　 2.設計并完成輻照實驗，驗證了兩模型的正確性，并優(yōu)選出噪聲幅值B作為噪聲靈敏評價參量。
　　 3.光電耦合器和pn結材料的輻射損傷機理相類似，本文在研究pn結材料抗輻射能力噪聲無損評價技術基礎上，提出光電耦合器抗輻射能力噪聲無損評價技術。包括建立噪聲評價模型，確定參數(shù)提取方法、評價判據(jù)以及測試流程