基于OVM的手機(jī)基帶芯片定時(shí)器驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì).pdf

1、傳統(tǒng)驗(yàn)證方法效率低下,可重復(fù)利用率低,驗(yàn)證工作在整個(gè)設(shè)計(jì)流程當(dāng)中占了大約70％的工作量,逐漸成為芯片產(chǎn)業(yè)的制約條件。為了提高芯片驗(yàn)證工作的效率、縮短芯片上市的時(shí)間、提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力,迫切需要一種新的驗(yàn)證方法。
　　OVM(Open Verification Methodology)由于其開(kāi)放性,為工程師提供了開(kāi)源的基于類的源代碼,可以方便構(gòu)建可復(fù)用的驗(yàn)證環(huán)境,逐漸成為大家所采用的一種驗(yàn)證方法。
　　本論文設(shè)計(jì)并搭建了一種基于

2、OVM架構(gòu)的手機(jī)基帶芯片定時(shí)器的驗(yàn)證平臺(tái),該平臺(tái)包括測(cè)試層、場(chǎng)景層、功能層、命令層、信號(hào)層,本文會(huì)對(duì)驗(yàn)證的五個(gè)層次進(jìn)行詳細(xì)的描述,并對(duì)各個(gè)組件的設(shè)計(jì)以及連接關(guān)系進(jìn)行闡述。論文還會(huì)詳細(xì)的描述驗(yàn)證平臺(tái)的樹(shù)形組織結(jié)構(gòu)以及驗(yàn)證平臺(tái)怎么在樹(shù)形結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上啟動(dòng)。在用OVM平臺(tái)驗(yàn)證手機(jī)基帶芯片的過(guò)程當(dāng)中,采用了定向測(cè)試和受約束的隨機(jī)測(cè)試作為激勵(lì)手段,通過(guò)代碼覆蓋率和功能覆蓋率來(lái)檢測(cè)驗(yàn)證效果的驗(yàn)證策略。此外,還在驗(yàn)證平臺(tái)中增加了基于斷言的驗(yàn)證,用來(lái)驗(yàn)證