小時延故障模擬方法研究.pdf

1、隨著集成電路工藝尺寸不斷縮小，工作頻率不斷提高，使得芯片中更加頻繁地出現(xiàn)一種新的故障。這些故障的存在讓被測電路的時延發(fā)生變化，導(dǎo)致電路失效，這類故障被稱為時延故障。超深亞微米以及納米工藝技術(shù)很容易帶來串?dāng)_噪聲、工藝參數(shù)變化、電源噪聲以及電阻開路和短路等現(xiàn)象，它們導(dǎo)致電路中出現(xiàn)的時延故障更多的是小時延故障。小時延故障是指故障大小小于一個時鐘周期的時延故障。小時延故障能夠被檢測到的條件為故障大小必須大于敏化路徑的時間裕量(slack)值，時

2、間裕量是測試時鐘周期減去該故障敏化路徑時延得到的差值。近年來，小時延故障對高頻工作電路的性能和質(zhì)量影響越來越大，小時延故障測試已經(jīng)成為生產(chǎn)測試中不可缺少的環(huán)節(jié)，受到越來越多的關(guān)注。
　　 故障模擬是評估測試質(zhì)量的重要手段，模擬后得到的故障覆蓋率是衡量測試質(zhì)量的指標。但是由于集成電路的大規(guī)模和高復(fù)雜度等特點，要得到很高的小時延故障覆蓋率所需的測試向量越來越多，致使小時延故障模擬成本越來越高。為了降低模擬成本，本文提出了一種高效的小

3、時延故障模擬方法，基于該方法采用了兩種不同的故障注入模式，實現(xiàn)了兩種小時延故障模擬器。
　　 本文提出的高效模擬方法采用新的波形表達方式，即用一串二進制位來表示波形。相對于目前已有的波形表達方式，該方法讓波形表示簡單、易于存儲、運算快。利用這種表達方法，本文首先采用確定故障注入模式(注入已知大小的故障)實現(xiàn)故障模擬器。確定故障注入模式可以知道每種大小的故障在模擬過程中的電路行為，這樣有利于收集模擬過程信息，分析故障特點，幫助測試