大功率白光LED的老化機理及其燈具的可靠性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、半導體發(fā)光二極管(LED)具有耗電小、發(fā)光效率高、綠色環(huán)保、壽命長等優(yōu)點。隨著LED性能的不斷提高和改進,其應用領域不斷擴大,包括指示燈、交通信號燈、背光源、通用照明等。大功率白光LED是半導體照明的關鍵器件,在不斷提高光效、降低成本的同時,對其可靠性也提出了更高要求。
   本論文在國家863項目(No:2009AA03A1A3)、國家科技重大專項項目(2008ZX10001-014)等項目的支持下,旨在通過對大功率GaN基白

2、光LED的老化機理研究,分析大功率白光LED整體及各組成部分的老化特性及其規(guī)律,從而針對性的改進器件結構,達到提高其可靠性的目的。同時,還對大功率白光LED應用于燈具中的可靠性進行了探討,大功率白光LED應用于照明燈具,除要考慮配光、驅動電源、散熱等因素外,還需對LED本身的性能進行深入細致的研究,從而最大程度地發(fā)揮半導體光源的優(yōu)勢,促進LED產業(yè)更好更快的發(fā)展。
   本論文主要開展了如下研究工作:
   1.回顧LE

3、D的發(fā)展歷程、國內外發(fā)展水平和發(fā)光二極管的發(fā)光原理以及LED的主要應用領域。論述可靠性測試的基本概念和測試方法;詳細闡述可靠性試驗以及失效分析技術。
   2.論述常用的老化試驗方法,詳細闡述影響大功率白光LED可靠性的主要因素,總結國內外關于提高LED可靠性而采取的方法和措施。
   3.選用兩類不同廠家的1W白光LED,分別進行高溫貯存(不加電流)和電流加速應力老化試驗。經過100小時的老化,各樣品均出現(xiàn)了光通量衰減

4、、色溫變化等現(xiàn)象。深入探討了不同應力下器件的老化機理,研究發(fā)現(xiàn)結溫升高、封裝材料的不穩(wěn)定是造成器件光、色參數(shù)變化的主要原因。通過對比分析發(fā)現(xiàn),樣品在電流應力下表現(xiàn)與高溫貯存下相同的變化趨勢,說明電流應力引起的退化歸因于芯片內部產生的熱量,從而導致結溫的升高。另外,通過對比兩類樣品的性能,得出硅樹脂作為封裝材料的可靠性要優(yōu)于環(huán)氧膠。
   4.選用同一批次的藍光芯片封裝而成的3W白、藍光LED,在相同條件下進行恒流對比老化試驗。在

5、常溫1000mA的條件下,經過8000小時老化試驗,白、藍光LED發(fā)光效率降低,峰值波長紅移,光通量衰減分別為30%和18%左右,并且衰減主要在2000小時以前,后期各樣品則趨于穩(wěn)定的變化趨勢,說明引起白光LED退化的原因包括藍光芯片、封裝材料、熒光粉等。同時進行了20mA電流應力試驗,以分析LED在小電流密度條件下的老化機理。通過白、藍光對比分析,發(fā)現(xiàn)藍光芯片的發(fā)光效率的降低是白光LED光衰的主要原因,熒光粉和封裝透鏡的退化也較明顯。

6、
   5.從配光、驅動電路、散熱、可靠性四個方面介紹了大功率LED在路燈應用中存在的問題,并提出了自己的看法,突出了可靠性研究在燈具設計時的重要性。針對一款自主研發(fā)的大功率LED路燈樣品,對導熱硅脂、反光碗、導線等配件及燈具條進行老化試驗,采用熱電偶法進行溫度測試,試驗證明,此款路燈的散熱板基本能夠滿足LED光源的散熱要求,還需進一步優(yōu)化LED安裝方式,增強散熱能力,反光碗的顏色退化是造成色溫變化的重要原因。通過老化試驗分析,

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