基于SOPC的自反饋測(cè)試序列搜索算法的研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著芯片設(shè)計(jì)向深亞微米、納米工藝技術(shù)的推進(jìn),超大規(guī)模集成電路(VLSI)的設(shè)計(jì)技術(shù)水平越來(lái)越高,它的特征尺寸越來(lái)越小,集成密度和復(fù)雜度越來(lái)越大,電路的測(cè)試變得越來(lái)越困難。測(cè)試成為VLSI設(shè)計(jì)中費(fèi)用最高、難度最大的一個(gè)環(huán)節(jié)。為了降低測(cè)試成本,可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)已成為VLSI設(shè)計(jì)中的重要組成部分。DFT的核心思想是在電路設(shè)計(jì)一開(kāi)始就考慮測(cè)試的設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)階段解決棘手的測(cè)試問(wèn)題。
　　 內(nèi)建自測(cè)試(BIST)是可測(cè)性設(shè)計(jì)的一種重要方法

2、。由被測(cè)電路自己產(chǎn)生測(cè)試向量的自反饋測(cè)試方法是一種新的BIST方法。該方法將被測(cè)電路的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)作為一種可以利用的資源。自反饋測(cè)試結(jié)構(gòu)通過(guò)寄存器捕獲被測(cè)電路部分內(nèi)部節(jié)點(diǎn)響應(yīng)反饋到原始輸入端,組成下一個(gè)測(cè)試向量,使得被測(cè)電路在施加了初始向量后,可以自動(dòng)的生成一個(gè)完整的測(cè)試集。該方法的研究重點(diǎn)是如何在較短時(shí)間內(nèi)尋找一種最佳的反饋方式,使得由被測(cè)電路產(chǎn)生的一組測(cè)試向量能夠在較短的測(cè)試向量長(zhǎng)度下達(dá)到比較高的故障覆蓋率。
　　 本文重點(diǎn)研究

3、自反饋測(cè)試方法的測(cè)試序列搜索算法。在給定測(cè)試集的情況下,尋找這樣一種反饋方式,使得在施加種子向量后,由被測(cè)電路自己生成的測(cè)試向量盡可能多的包含在測(cè)試集中。如果能找到測(cè)試集中的一組最長(zhǎng)的測(cè)試向量序列,就能求出其對(duì)應(yīng)的反饋方式。本文采用窮舉和回溯算法搜索測(cè)試向量所有組合以尋求最佳的反饋方式。由于用軟件實(shí)現(xiàn)自反饋測(cè)試生成方法,其速度會(huì)受到本質(zhì)是串行的計(jì)算機(jī)影響,對(duì)于規(guī)模較大的電路無(wú)法在較短的時(shí)間內(nèi)求得所有的反饋方式。因此,采用硬件化設(shè)計(jì)具有重

4、要的意義。
　　 本文設(shè)計(jì)了一種基于片上可編程系統(tǒng)的自反饋測(cè)試序列搜索系統(tǒng)。系統(tǒng)利用嵌入式開(kāi)發(fā)技術(shù),在XUP Xilinx Virtex-Ⅱ Pro開(kāi)發(fā)系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)了一種基于窮舉和回溯的測(cè)試序列搜索方法。系統(tǒng)在XC2VP30 FPGA芯片上實(shí)現(xiàn)了自反饋測(cè)試序列搜索的功能驗(yàn)證,測(cè)試了ISCAS85 Benchmark中的4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電路。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該自反饋測(cè)試序列搜索算法遍歷測(cè)試向量所有組合情況后,找到了所有最長(zhǎng)的測(cè)試向量序列,即找到