基于特高頻檢測(cè)方法的局部放電特性研究.pdf

1、目前通過(guò)對(duì)現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備實(shí)際運(yùn)行情況統(tǒng)計(jì)分析表明，絕緣故障仍是影響設(shè)備安全穩(wěn)定運(yùn)行的主要原因。局部放電是造成設(shè)備絕緣劣化的主要因素，同時(shí)它也可以有效地反映出設(shè)備內(nèi)部的絕緣劣化程度。特高頻(UHF)法是現(xiàn)今局部放電檢測(cè)中的一種常用方法，特高頻是指頻率由300 MHz到3GHz的電磁波，此方法通過(guò)特高頻天線接收局部放電過(guò)程中所輻射的特高頻電磁波信號(hào)來(lái)進(jìn)行局部放電檢測(cè)。實(shí)驗(yàn)表明，不同缺陷類(lèi)型的局部放電UHF信號(hào)具有不同的特征，因此可以通過(guò)對(duì)檢測(cè)到的

2、UHF信號(hào)進(jìn)行特征分析進(jìn)而判斷出誘發(fā)局部放電的缺陷類(lèi)型。本文在3米法電波暗室環(huán)境下通過(guò)搭建局部放電試驗(yàn)系統(tǒng)，在大量試驗(yàn)的基礎(chǔ)上研究了不同放電類(lèi)型下特高頻信號(hào)的時(shí)頻特性，并根據(jù)不同放電類(lèi)型分析出各自的信號(hào)特征。在此基礎(chǔ)上通過(guò)支持向量機(jī)(SVM)和相關(guān)向量機(jī)(RVM)人工智能學(xué)習(xí)算法對(duì)缺陷類(lèi)型做進(jìn)一步模式識(shí)別。通過(guò)對(duì)以往各項(xiàng)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分類(lèi)結(jié)果總結(jié)分析，發(fā)現(xiàn)人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(簡(jiǎn)稱(chēng)ANN)存在收斂速度慢和易陷入局部最優(yōu)的問(wèn)題影響了其精度，SVM要求

3、核函數(shù)必須滿(mǎn)足梅西定理等固有限制，需要計(jì)算出所有樣本之間的核函數(shù)，計(jì)算復(fù)雜度會(huì)隨著樣本數(shù)增長(zhǎng)而急劇增大，但識(shí)別正確率較高。與前兩者相比，RVM計(jì)算復(fù)雜度較低，RV比例大大低于SV比例，不僅可以得到一個(gè)基于核函數(shù)稀疏解的概率輸出，而且測(cè)試時(shí)間更短，適合于在線檢測(cè)。
　　本文將支持向量機(jī)和相關(guān)向量機(jī)用于局部放電特性研究中，通過(guò)二叉樹(shù)多分類(lèi)法用三個(gè)二分類(lèi)分類(lèi)器對(duì)四種典型的局部放電類(lèi)型進(jìn)行分類(lèi)識(shí)別，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，SVM可以很好的對(duì)四種放電