電子子系統(tǒng)的FMEA研究與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁(yè)
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1、隨著電子系統(tǒng)的功能與結(jié)構(gòu)變得日益復(fù)雜,F(xiàn)MEA已經(jīng)成為了評(píng)估電子系統(tǒng)可靠性的一種重要方法。FMEA在應(yīng)用于電子系統(tǒng)過(guò)程中主要有以下兩個(gè)問(wèn)題:一是失效模式的發(fā)生頻度評(píng)估困難以及不準(zhǔn)確;二是由于它是一種單因素分析方法,而很難應(yīng)用于電子系統(tǒng)的系統(tǒng)層。
  針對(duì)第一個(gè)問(wèn)題,本文采用了基于失效物理方法的失效率預(yù)計(jì)結(jié)果。失效物理方法主要是通過(guò)分析電子元器件在各環(huán)境應(yīng)力下發(fā)生失效的內(nèi)在機(jī)理來(lái)進(jìn)行可靠性預(yù)計(jì),因此可以準(zhǔn)確評(píng)估出電子元器件失效率,再

2、根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)驗(yàn)分別評(píng)估出失效模式頻數(shù)比和影響概率,從而達(dá)到了準(zhǔn)確評(píng)估電子元器件失效模式的發(fā)生頻度的目的。
  針對(duì)第二個(gè)問(wèn)題,本文通過(guò)分析電子系統(tǒng)各約定層次不同失效模式之間的關(guān)系,建立了系統(tǒng)各約定層次間的失效模式關(guān)系圖,以及各失效模式的故障樹(shù),再利用FTA知識(shí)就可以快速準(zhǔn)確評(píng)估出各失效模式的發(fā)生頻度以及嚴(yán)酷度,從而最終實(shí)現(xiàn)了電子系統(tǒng)的系統(tǒng)層FMEA。
  最后,論文對(duì)以上研究的FMEA理論進(jìn)行了軟件實(shí)現(xiàn)。該軟件能夠識(shí)讀電子系

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