2D-C-SiC缺口試樣的拉伸及蠕變行為.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、2D-C/SiC復合材料是一種新型的超高溫結構材料,在航天航空等領域具有廣闊的應用前景。文獻中對其光滑試件的拉伸及拉伸蠕變性能的研究比較多,而對其缺口試件的拉伸及拉伸蠕變性能的研究至今鮮見報道,給工程設計、應用帶來了很大的困難。本文研究了2D-C/SiC雙邊圓弧缺口試樣的拉伸及拉伸蠕變性能。試樣缺口圓弧半徑為2mm,缺口深度為0.5mm。在室溫至1500℃范圍內真空下進行了拉伸試驗,在1100℃、1300℃和1500℃真空下進行了拉伸蠕

2、變試驗。用有限元法模擬了2D-C/SiC缺口試件應力場的分布,并計算了其應力集中系數。用電阻法研究了拉伸過程的損傷。在蠕變的0h、0.5h、2h、10h、25h、50h中斷試驗,測量了試樣的共振頻率,同時用SEM檢測了表面基體裂紋。分別用電阻法、彈性模量法、分形維數法表征了帶缺口2D-C/SiC在蠕變過程中的損傷。通過研究本文獲得如下主要結果:有限元法計算得出本文2D-C/SiC雙邊圓弧缺口試樣的應力集中系數為1.53。在高溫(900℃

3、-1500℃)下,2D-C/SiC抗拉強度與缺口強度的比值介于1~1.53之間,即在本文試樣缺口幾何尺寸條件下,2D-C/SiC具有一定的缺口敏感性,不是完全缺口塑性材料,也不是完全缺口脆性材料;而在室溫下是完全缺口脆性材料。 電阻法可以表征2D-C/SiC在拉伸過程中的損傷,用電阻的變化率D=△R/R0表征的無缺口2D-C/SiC的最大損傷值D在4-12%之間即發(fā)生斷裂,而有缺口2D-C/SiC的最大損傷D在0.5%左右時試樣

4、斷裂。光滑試樣是作為一個整體產生損傷,而缺口試樣的損傷主要集中在缺口區(qū)。 1100℃時,無論應力大小,蠕變都集中在瞬態(tài)階段,穩(wěn)態(tài)蠕變速率幾乎為零;1500℃時無缺口試樣(名義應力170MPa)和帶缺口試樣(名義應力95MPa)穩(wěn)態(tài)蠕變速率處于同一個數量級(10-5/h),100h試驗期內沒有發(fā)現蠕變的第三階段。溫度是影響穩(wěn)態(tài)蠕變速率的主要因素。 裂紋數量—時間曲線、裂紋寬度—時間曲線和蠕變曲線極為相似,都分為快速增長和緩

5、慢增長兩個階段。在蠕變開始階段(0-10h)出現了基體微裂紋的快速增長,其中0-2小時近缺口區(qū)的裂紋增長速度大于遠離缺口區(qū),而在2-10小時遠離缺口區(qū)的裂紋增長速度大于近缺口區(qū)。說明蠕變過程中應力重新分配。 蠕變損傷主要集中在近缺口區(qū),在近缺口區(qū)、纖維束編織交叉處最先產生基體微裂紋,在近缺口區(qū)的縱向纖維容易斷裂。比較了用電阻法、彈性模量法、分形維數法表征2D-C/SiC雙邊圓弧缺口試樣蠕變過程中的損傷。電阻法能實現連續(xù)測量損傷,

6、蠕變過程中電阻總體上是增大的,但在局部的變化是無序的,測量時所受的干擾比較大;彈性模量能很好的表征試樣整體在蠕變過程的損傷;分形維數法主要反映在微觀局部區(qū)域的損傷發(fā)展情況。彈性模量和分形維數法兩者的損傷曲線都分為兩個階段,即蠕變開始時的快速增長階段和隨后的緩慢變化階段。在緩慢變化階段,用彈性模量表征的損傷先下降,然后隨蠕變時間又逐漸增加;而用分形維數表征的損傷在緩慢變化階段是一直單調增加的。以基體裂紋為主要損傷形式條件下,分形維數主要反

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