2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、論文是研制通用半導(dǎo)體存儲器SEU、SEL測試系統(tǒng),測試對象選擇我國航天科研單位較為常用的三種半導(dǎo)體存儲器:SRAM、EEPROM、FLASH。系統(tǒng)采用虛擬技術(shù)和Lab VIEW圖形化編程語言來設(shè)計;通過分析翻轉(zhuǎn)前后數(shù)據(jù)的內(nèi)在關(guān)系,提出了一種基于單向數(shù)據(jù)流的判定算法;根據(jù)NI PXI-6541、PXI-6602的通道可重定義功能,實現(xiàn)了存儲器的地址通道、數(shù)據(jù)通道、控制通道可重定義和測試區(qū)域的任意指定,從而擴展了系統(tǒng)的測試容量和測試類型。<

2、br>   系統(tǒng)的功能是檢測存儲器存儲單元位狀態(tài)變化和存儲器工作電流的變化,在線記錄測試結(jié)果,自動控制束流快門的開關(guān),自動切換芯片的電源,自動選擇測試對象,對特殊芯片可自動生成采樣波形和產(chǎn)生波形,特殊功能引腳可進行重定義;提供兩種測試模式:改寫模式和非改寫模式;提供兩種閂鎖處理方式:延時方式和降壓方式。
   系統(tǒng)在北京HI-13串列加速器單離子效應(yīng)專用裝置上進行了現(xiàn)場驗證,實驗時采用35cl10,14+粒子對TC58256F

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