低成本頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、頻率特性測(cè)試儀是學(xué)校教學(xué)和科研工作中經(jīng)常會(huì)用到的一種測(cè)量?jī)x器。針對(duì)目前市場(chǎng)上頻率特性測(cè)試儀價(jià)格昂貴而中小規(guī)模學(xué)校的購(gòu)買(mǎi)力相對(duì)不足的現(xiàn)狀，本文提出了一種適合于中小規(guī)模學(xué)校使用的頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案。該頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)中，在滿足性能要求的前提下，盡量采用低價(jià)的器件，從而有效地降低了測(cè)試儀的開(kāi)發(fā)成本；另外，該測(cè)試儀被設(shè)計(jì)為具有多功能的系統(tǒng)，它不僅可以作為測(cè)量?jī)x器使用，也可以作為普通正弦信號(hào)源和掃頻信號(hào)源使用。 論文首先概述了頻

2、率特性測(cè)試儀的基本原理和發(fā)展歷程，在分析了我國(guó)當(dāng)前頻率特性測(cè)試儀市場(chǎng)現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上，提出了低成本頻率特性測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案，之后詳細(xì)地介紹了該設(shè)計(jì)方案的實(shí)現(xiàn)過(guò)程。 本文中設(shè)計(jì)的頻率特性測(cè)試儀主要是由主控制器和掃頻信號(hào)源構(gòu)成的。掃頻信號(hào)源是基于直接數(shù)字頻率合成(DDS)技術(shù)的，由FPGA來(lái)實(shí)現(xiàn)，可以得到頻率轉(zhuǎn)換速度快、穩(wěn)定度高的掃頻信號(hào)，論文的第三章詳細(xì)地介紹了信號(hào)源的組成原理及用FPGA實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)的方法，并對(duì)設(shè)計(jì)好的信號(hào)源進(jìn)行了軟件仿

3、真，證實(shí)了設(shè)計(jì)方法的正確性；測(cè)試儀的主控制器由MSP430F449單片機(jī)來(lái)充當(dāng)，對(duì)整個(gè)系統(tǒng)起控制和管理的作用，論文第四章詳細(xì)介紹了主控制器的硬件電路設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)。 為了驗(yàn)證頻率特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)原理的正確性，作者還設(shè)計(jì)、制作了實(shí)驗(yàn)裝置，并在該實(shí)驗(yàn)裝置上進(jìn)行的幾個(gè)原理驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，論文的第五章給出了該實(shí)驗(yàn)裝置的原理圖、PCB圖以及原理驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)的程序清單和實(shí)驗(yàn)輸出結(jié)果。通過(guò)對(duì)實(shí)驗(yàn)輸出結(jié)果進(jìn)行分析，證實(shí)了本文的設(shè)計(jì)原理的正確性和可行性。