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文檔簡介
1、LED(發(fā)光二極管)作為第三代半導體光電器件以其獨特的優(yōu)勢得到了世界各國的廣泛關注。發(fā)達國家研制和生產了多種LED光電參數測試儀,并形成了一定特色。國內研發(fā)的測試儀測試速度慢,人機界面不友好。我國大部分測試儀依賴進口,成本高,對行業(yè)發(fā)展不利。本課題在分析已有測試方法和方案的基礎上,提出了一套基于模式匹配算法的LED測試方案。
本文首先介紹了LED的發(fā)展現狀和國內外測試水平,并論述了LED各參數的測試方法和原理。在此基礎上,研究
2、分析了常見模式匹配算法,結合模式匹配算法的特點和本課題實際測試需求,給出了一種新型的適合單片機系統(tǒng)的LED模式匹配算法,實現了LED類型的自動識別;同時設計制作了新穎的高精度數控恒流源和數控恒壓源,構建了大電流高電壓開關陣列,完成了樣機設計。最后對關鍵模塊進行了實際驗證分析,與深圳科信超聲焊接設備有限公司生產的HKD-2050A型數碼管測試儀進行了實際測試對比分析。
樣機經過LED生產廠家試用驗證,結果表明該儀器在測試精度、重
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