超高頻射頻識(shí)別系統(tǒng)中基帶頻率偏差檢測(cè)方法研究.pdf

1、無線射頻識(shí)別技術(shù)(Radio Frequency Identification,RFID)是一種在多個(gè)領(lǐng)域廣泛使用的非接觸自動(dòng)識(shí)別技術(shù)。典型的RFID系統(tǒng)由讀寫器、電子標(biāo)簽組成。與條形碼和磁卡相比,RFID所具有的讀取速度快、免接觸式操作、數(shù)據(jù)的記憶容量大、抗干擾性強(qiáng),讀取距離遠(yuǎn)等優(yōu)勢(shì),使其成為識(shí)別技術(shù)的發(fā)展方向。
　　 但是,RFID系統(tǒng)的性能受到依附物材質(zhì)、傳輸帶速率、交互方式、標(biāo)簽粘貼位置等多種因素的影響。隨著RFID產(chǎn)品

2、標(biāo)準(zhǔn)的進(jìn)一步完善和確立,就需要對(duì)RFID的性能進(jìn)行測(cè)試,保證產(chǎn)品性能與標(biāo)準(zhǔn)的一致性。RFID的基帶頻率偏差檢測(cè)就是其中一項(xiàng)很重要的內(nèi)容。
　　 標(biāo)簽返回的高頻信號(hào)被讀寫器天線接受后,經(jīng)過特定的信號(hào)處理過程(如放大、解調(diào))后得到基帶信號(hào)。在不同數(shù)據(jù)速率和溫度下,RFID標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于頻率偏差有不同的要求,這就要求對(duì)RFID的基帶頻率偏差進(jìn)行測(cè)試,
　　 本文完成了RFID基帶頻率偏差檢測(cè)的理論設(shè)計(jì)。本文采用基于濾波器的方法,即首

3、先對(duì)采樣信號(hào)進(jìn)行FIR低通濾波,然后相關(guān)運(yùn)算完成數(shù)據(jù)解碼。最后通過如下方法估計(jì)頻偏。
　　 對(duì)于已知環(huán)境噪聲中的頻率偏差檢測(cè),通過預(yù)設(shè)門限的方法確定?？紤]到頻偏估計(jì)對(duì)編碼電平采樣點(diǎn)數(shù)的敏感性,邊界點(diǎn)需要細(xì)致的判決。首先通過濾波前后邊界點(diǎn)與預(yù)設(shè)門限的比較確定權(quán)值。然后通過預(yù)估結(jié)果與不同頻率偏差下的采樣序列的加權(quán)比較確定頻偏。對(duì)于未知噪聲環(huán)境中的頻率偏差檢測(cè),通過波形變換的方法確定。首先通過采樣信號(hào)的適當(dāng)抽取構(gòu)造余弦的4倍采樣波形,