基于Temb的嵌入式軟件測(cè)試過程模型的研究.pdf

1、嵌入式系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用,使人們?cè)絹碓疥P(guān)注其產(chǎn)品的質(zhì)量。嵌入式系統(tǒng)繼承性差,產(chǎn)品的專用程度較高,良好的軟件測(cè)試方案是保證嵌入式軟件質(zhì)量的關(guān)鍵。建立正確的高效的測(cè)試方案,需要理論模型指導(dǎo)測(cè)試過程,這就使得研究一種通用測(cè)試模型變的很有必要。
　　 本文針對(duì)嵌入式軟件的特點(diǎn),在分析傳統(tǒng)測(cè)試模型的基礎(chǔ)上,改進(jìn)了傳統(tǒng)測(cè)試過程模型的缺點(diǎn),提出了一種較通用的測(cè)試模型。在改進(jìn)的過程模型中,試圖將測(cè)試貫穿于開發(fā)的所有階段,同時(shí)對(duì)改進(jìn)了回歸測(cè)試調(diào)度,發(fā)

2、掘回歸測(cè)試的循環(huán)幅度,將測(cè)試的范圍限定在最底層的單元測(cè)試,這樣可以增加各測(cè)試階段對(duì)單元測(cè)試的回歸。并以需求變更為基礎(chǔ),重點(diǎn)增強(qiáng)各測(cè)試階段間的并行性,傳統(tǒng)的測(cè)試模型把各個(gè)測(cè)試階段嚴(yán)格分開,過程過于理想化,明確的限定了各個(gè)測(cè)試階段之間的時(shí)間。改進(jìn)模型中,允許各個(gè)測(cè)試階段相鄰抑或非相鄰的測(cè)試階段之間存在重疊,這將大大提升測(cè)試的效率。
　　 本文在研究改進(jìn)模型時(shí),以需求變更為起點(diǎn)著手測(cè)試工作,同時(shí)在嵌入式軟件測(cè)試中引入U(xiǎn)ML、XP等技術(shù)