液晶模塊的壽命試驗和可靠性增長試驗.pdf

1、隨著液晶模塊制造技術(shù)的日益成熟，液晶顯示器、液晶電視在人們生活中的使用越加廣泛。與此同時，對液晶產(chǎn)品中最主要的構(gòu)成部分液晶模塊的壽命和可靠性要求被更加突出地體現(xiàn)出來，測量和提高液晶模塊的壽命和可靠性是本文的主題。
　　 1.本文首先介紹了文章中涉及到的液晶模塊結(jié)構(gòu)、材料、工藝方面的知識。之后用高溫壽命試驗方法結(jié)合威布爾分布知識得到某型號液晶模塊的威布爾分布即不可靠度F（t）隨時間的推移公式及不可靠度F（t）的概率密度函數(shù)f（t）

2、，從而較準(zhǔn)確地求得該產(chǎn)品平均壽命、某時間點產(chǎn)品的可靠度等產(chǎn)品相關(guān)信息。
　　 2.得到液晶模塊的壽命相關(guān)信息后，本文針對液晶產(chǎn)品的特點，通過進行可靠性增長試驗HALT 中的溫度應(yīng)力、振動應(yīng)力、組合應(yīng)力試驗暴露出該產(chǎn)品的可靠性潛在弱點，加以深入分析后提出改進方法并付諸實踐，提高了該液晶模塊的可靠性。
　　 本文中的試驗方法具有普遍性，適用于絕大多數(shù)的液晶模塊。高溫壽命試驗的優(yōu)點是可以準(zhǔn)確地得到失效時間，缺點是試驗時間長；H