嵌入式軟件自動(dòng)回歸測(cè)試方法的研究.pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)硬件和軟件技術(shù)的飛速發(fā)展,嵌入式系統(tǒng)的硬件規(guī)模和性能得到了極大的提高,相應(yīng)的,嵌入式系統(tǒng)軟件和應(yīng)用軟件的復(fù)雜性和規(guī)模也日益提高,嵌入式軟件測(cè)試作為嵌入式軟件開發(fā)重要環(huán)節(jié)的同時(shí),也成為了嵌入式軟件質(zhì)量的重要保障。任何軟件的開發(fā)都不是一次成功的,需要成百上千次的反復(fù)修改和測(cè)試,然而由于嵌入式軟件的復(fù)雜性,決定著嵌入式軟件的修改是一項(xiàng)困難的任務(wù),在修改的過程中容易引入新的錯(cuò)誤。嵌入式軟件回歸測(cè)試就是為了能找到程序修改后出現(xiàn)錯(cuò)誤的因?yàn)?/p>

2、,它在整個(gè)軟件開發(fā)的生命周期中占有重要地位。在我國(guó),嵌入式軟件測(cè)試技術(shù)的研究尚處于初級(jí)階段,如何在嵌入式軟件測(cè)試中能夠高效地定位出程序修改的錯(cuò)誤是一個(gè)亟待解決的課題。
　　 本文介紹了回歸測(cè)試的三種錯(cuò)誤定位方法:基于程序切片錯(cuò)誤定位的方法；基于程序頻譜回歸測(cè)試錯(cuò)誤定位的方法和基于程序代碼覆蓋錯(cuò)誤定位的方法；以及面向?qū)ο蟮幕貧w測(cè)試的一種方法即原子依賴分析。接著,本文提出一種適用于嵌入式軟件的基于程序頻譜和原子依賴的回歸測(cè)試錯(cuò)誤定位