已閱讀1頁,還剩81頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀
版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
1、實驗測量和理論模擬結(jié)果都表明,當器件溝道長度減小到某一長度后,載流子輸運機制將從漂移擴散向準彈道甚至彈道輸運過渡,而器件中的過剩噪聲主要成分將從以熱噪聲為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐陨⒘T肼暈橹鳌1疚耐ㄟ^深入分析,發(fā)現(xiàn)輸運機制轉(zhuǎn)變與過剩噪聲成分轉(zhuǎn)變的動力學根源一致,都取決于源區(qū)附近勢壘及溝道電阻這兩個限制因素的競爭關(guān)系?;诩{米MOSFET載流子輸運物理和熱噪聲、散粒噪聲產(chǎn)生機理,本文推導(dǎo)了輸運機制及過剩噪聲主要成分發(fā)生轉(zhuǎn)變的條件。隨著溝道長度縮短、源漏
2、電壓增加、柵極電壓減小及溫度降低,輸運機制將從漂移擴散輸運轉(zhuǎn)變?yōu)閺椀垒斶\,過剩噪聲將從熱噪聲轉(zhuǎn)變?yōu)樯⒘T肼?。為了預(yù)測納米MOSFET電流噪聲,本文基于準彈道納米MOSFET電流模型及載流子輸運圖像,建立了電流噪聲模型。本文模型與實驗、模擬得到的結(jié)果一致。根據(jù)本文建立的噪聲模型,提出一種基于噪聲測試的背散射系數(shù)提取方法,實現(xiàn)了噪聲對輸運信息的表征。最后,本文對納米MOSFET輸運及噪聲進行了Monte Carlo模擬研究,得到了輸運參量、
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 納米MOSFET散粒噪聲抑制及其應(yīng)用.pdf
- 基于散粒噪聲的納米尺度MOSFET載流子相關(guān)性分析.pdf
- 30742.雙量子點系統(tǒng)量子輸運的散粒噪聲
- 散粒噪聲分析方法及軟件研究.pdf
- 單層石墨烯超晶格中的輸運特性和散粒噪聲.pdf
- Thue-Morse序列石墨烯超晶格中電子輸運和散粒噪聲.pdf
- 電子元器件散粒噪聲特性及測試方法研究.pdf
- Fibonacci有帶隙石墨烯超晶格中的電子輸運和散粒噪聲.pdf
- 單量子點系統(tǒng)散粒噪聲的研究.pdf
- 4790.thuemorse有帶隙石墨烯超晶格的電子輸運和散粒噪聲
- 硼摻雜的納米管MOSFET的光電輸運特性研究.pdf
- SOI MOSFET高頻特性及噪聲模型研究.pdf
- 短溝道MOSFET高頻噪聲特性研究.pdf
- MOSFET噪聲與熱載流子效應(yīng)研究.pdf
- 納米圍柵MOSFET器件研究.pdf
- 外加電場、界面雜質(zhì)及有效質(zhì)量對磁性隧道結(jié)散粒噪聲的影響.pdf
- 射頻MOSFET噪聲參數(shù)提取研究及噪聲系數(shù)自動化測試系統(tǒng)設(shè)計.pdf
- 射頻MOSFET噪聲模型研究及CMOS工藝低噪聲放大器設(shè)計.pdf
- MOSFET隧穿漏電流噪聲特性及測試方法研究.pdf
- 電聲子耦合量子點中自旋相關(guān)的Andreev電導(dǎo)和散粒噪聲.pdf
評論
0/150
提交評論