雷達(dá)罩插入相位延遲（IPD）測試儀中相位測試技術(shù)研究.pdf

1、在雷達(dá)罩的電性能中，罩壁的插入相位延遲(即IPD——Insertion PhaseDelay)是一項非常重要的參數(shù)。由于罩壁引入的IPD變化會導(dǎo)致天線增益的損失、波束寬度變化、波束偏轉(zhuǎn)及副瓣抬高，從而嚴(yán)重影響雷達(dá)的性能。隨著科技的不斷發(fā)展，對雷達(dá)罩的要求越來越高，傳統(tǒng)的生產(chǎn)方式已不能適應(yīng)新的需求。為了改進(jìn)生產(chǎn)方式，提高產(chǎn)品質(zhì)量及成品率，縮短生產(chǎn)周期，在雷達(dá)罩的生產(chǎn)線上急需配套IPD測試設(shè)備。 本文針對雷達(dá)罩IPD測試中的關(guān)鍵技術(shù)

2、一相位測試技術(shù)展開了廣泛而深入的討論。在分析典型的相位一時間間隔轉(zhuǎn)換測量法的基礎(chǔ)上，提出了一種新的相位測試實現(xiàn)方法一離散傅立葉變換法。研究了其基本測試原理，分析了中頻測試信號的相位測試不確定度與噪聲總能量、采樣點(diǎn)數(shù)和中頻測試信號的幅度的關(guān)系。得出了中頻測試信號的相位測試不確定度與噪聲總能量成正比，與采樣點(diǎn)數(shù)、中頻測試信號的能量成反比的結(jié)論。并且分析得出增加采樣點(diǎn)數(shù)等效為對測試源相位噪聲和中頻測試信號信噪比的改善，可以降低對前端測試源及其