半導體發(fā)光二極管可靠性研究及熱特性分析.pdf

1、光電子產(chǎn)業(yè)是21世紀最受矚目的高科技領域之一，并已成為衡量國家科技發(fā)展水平的重要標志。其中，半導體發(fā)光二極管(LED)以其高效、節(jié)能、環(huán)保、耐用、使用壽命長等特點，引領照明光源的發(fā)展趨勢，成為官產(chǎn)學研各個領域都極重視的新興產(chǎn)業(yè)。隨著LED越來越廣泛的應用于生產(chǎn)生活的各個方面，市場對LED可靠性的要求越來越高，同時如何從各個方面全面的評價LED的可靠性也成為生產(chǎn)消費各方共同關注的一個問題。 正是順應這些需求，本論文主要從以下幾方面

2、展開研究工作： 首先，論述了可靠性測試的一些基本概念及發(fā)光二極管的失效機理，總結了可靠性測試的基本方法，以及數(shù)據(jù)分析的理論模型； 其次，對實驗室研制的高亮度小功率紅光LED和HP公司生產(chǎn)的小功率紅光LED進行了溫度應力的加速壽命試驗及可靠性分析，在90℃，20mA的條件下，經(jīng)6560小時的老化試驗，實驗室研制的有無ITO薄膜的兩種LED，其光通量下降約25.3％，同時，HP的LED光通量下降約33.3％，外推這三種LED

3、在90℃，20mA下的壽命分別為13706小時，13706小時及10704小時，可以得出實驗室研制的LED在可靠性方面要優(yōu)于HP公司生產(chǎn)的LED。 然后，對5支實驗室研制環(huán)氧樹脂封裝的小功率紅光LED進行了熱過應力測試。在高溫條件下，LED各項參數(shù)并無明顯退化，180℃下全部突然失效。對3組各3支裸裝LED進行了130mA、140mA及150mA的電過應力測試，出現(xiàn)電壓升高現(xiàn)象，到2.3V以上突然失效。電流越大，電壓升高越快。并

4、詳盡分析闡述了LED的幾種失效機理。 接著，對大功率LED的溫高低特性進行了研究，并且在低溫條件下在線的測試了LED的相對光強與峰值波長等相關光參數(shù)，給出了LED各項性能參數(shù)曲線，分析了LED各項參數(shù)和溫度的變化關系，隨著LED結溫的升高，LED的光電參數(shù)出現(xiàn)正向電壓降低、相對光強減小、峰值波長紅移等現(xiàn)象。最后分析了參數(shù)變化的原因以及對實際應用的影響。 最后介紹了Si襯底GaN基藍光LED，并對南昌大學研制的Si襯底Ga