磁記憶檢測(cè)技術(shù)機(jī)理及其應(yīng)用的研究.pdf

1、磁記憶檢測(cè)技術(shù)實(shí)際上是一種漏磁檢測(cè)技術(shù)，和其他磁方法不同的是，檢測(cè)時(shí)不需要外加磁場(chǎng)，整個(gè)過(guò)程都在地磁場(chǎng)中進(jìn)行。在地磁場(chǎng)作用下，磁力線(xiàn)通過(guò)缺陷部位或應(yīng)力集中區(qū)時(shí)，會(huì)在表面形成一定的漏磁場(chǎng)。利用高靈敏度的磁敏探頭，磁記憶檢測(cè)儀可以測(cè)取到構(gòu)件表面漏磁場(chǎng)法向分量的分布值，據(jù)此可以判斷構(gòu)件的缺陷或應(yīng)力集中狀態(tài)。 本文從機(jī)理、設(shè)備、應(yīng)用三個(gè)角度概述了磁記憶檢測(cè)技術(shù)在國(guó)內(nèi)外的研究現(xiàn)狀，重點(diǎn)研究了其物理基礎(chǔ)和力學(xué)基礎(chǔ)，并從磁性物理學(xué)、材料力學(xué)等

2、角度闡述了磁記憶檢測(cè)的機(jī)理。隨后，對(duì)課題組開(kāi)發(fā)的磁記憶檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行了簡(jiǎn)要介紹。 人為制造了帶有幾種缺口的試樣，在對(duì)部分試樣的應(yīng)力狀態(tài)進(jìn)行ANSYS有限元分析后，進(jìn)行了拉伸試驗(yàn)和磁記憶檢測(cè)試驗(yàn)。論文分析了缺口形貌、掃描路徑、地磁場(chǎng)方向等因素對(duì)磁記憶信號(hào)的影響。在此基礎(chǔ)上，采用磁記憶技術(shù)對(duì)、以及等三種不同材質(zhì)鋼進(jìn)行了檢測(cè)，并對(duì)磁記憶信號(hào)的差異和特點(diǎn)進(jìn)行了分析，為磁記憶檢測(cè)的實(shí)際應(yīng)用提供了理論基礎(chǔ)和檢測(cè)依據(jù)。 最后，將磁記憶檢