數(shù)字電路易測(cè)性重構(gòu)及自動(dòng)化重構(gòu)技術(shù)的研究.pdf

1、數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)測(cè)試歷來(lái)存在兩個(gè)分支：系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)測(cè)試和系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)測(cè)試。長(zhǎng)久以來(lái)，這兩個(gè)領(lǐng)域各自從事自己的工作，很少涉足對(duì)方領(lǐng)域。然而，從邏輯上分析，二者的理念幾乎是一致的，有著相似的理論和方法。只是長(zhǎng)期以來(lái)人們疏于將二者進(jìn)行比較、分析和利用，從而喪失了很多相互借鑒、共同發(fā)展的機(jī)會(huì)。如果我們能將兩者結(jié)合起來(lái)充分利用其相似性和一致性，則可以促進(jìn)軟件設(shè)計(jì)測(cè)試和硬件設(shè)計(jì)測(cè)試的發(fā)展。 “易測(cè)性重構(gòu)(Refactoring for test

2、ability)”的思想正是建立在上述軟、硬件設(shè)計(jì)測(cè)試一致性理論上的一個(gè)實(shí)際例子。它將軟件設(shè)計(jì)中的重構(gòu)的思想移植到數(shù)字電路可測(cè)性設(shè)計(jì)研究領(lǐng)域中。“重構(gòu)”在軟件設(shè)計(jì)中已是一個(gè)比較成熟并且被廣泛利用的技術(shù)，將這個(gè)成熟的技術(shù)引入到數(shù)字電路可測(cè)性設(shè)計(jì)中以期降低可測(cè)性設(shè)計(jì)的復(fù)雜度，提高整個(gè)系統(tǒng)的可靠性。 本論文主要討論：易測(cè)性重構(gòu)模式以及自動(dòng)化重構(gòu)系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)。論文首先在對(duì)軟件重構(gòu)分析的基礎(chǔ)上提出數(shù)字電路設(shè)計(jì)易測(cè)性重構(gòu)的思想，并且研究了重構(gòu)