超低剩余反射計(jì)的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、在光學(xué)光電子技術(shù)中，端面剩余反射率是光電元件的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)，對(duì)元件性能起著至關(guān)重要的作用。因此一種簡(jiǎn)便快捷的高精度的測(cè)量方法對(duì)于實(shí)際生產(chǎn)和科學(xué)研究都具有十分重要的意義。 連續(xù)光反射計(jì)法是一種簡(jiǎn)便快捷的測(cè)量反射率的方法，在生產(chǎn)和科研中得到大量應(yīng)用。在實(shí)際應(yīng)用中，往往需要對(duì)極低的剩余反射率進(jìn)行檢測(cè)，而對(duì)超低剩余反射率的測(cè)量具有很大難度?；诖耍疚膶?duì)超低剩余反射率的測(cè)量方法和原理做了系統(tǒng)分析和研究，并應(yīng)用此研究成果設(shè)計(jì)制作出超低

2、剩余反射計(jì)樣機(jī)一臺(tái)。主要科研成果如下： (1)在詳細(xì)分析了反射率測(cè)量的各種方法的基礎(chǔ)上，提出了一種實(shí)用型超低剩余反射率測(cè)量系統(tǒng)的原理和總體方案，創(chuàng)新性的將雙光纖準(zhǔn)直器應(yīng)用于本系統(tǒng)，并針對(duì)其關(guān)鍵技術(shù)作了深入分析。 (2)設(shè)計(jì)了超低剩余反射率測(cè)量系統(tǒng)，詳細(xì)闡述了從總體設(shè)計(jì)到模塊設(shè)計(jì)的方法和過(guò)程。具體設(shè)計(jì)了光源模塊中的恒功率控制和恒溫控制驅(qū)動(dòng)電路，光功率檢測(cè)模塊中的微弱信號(hào)檢測(cè)電路和自動(dòng)量程控制電路及相關(guān)控制軟件。并且作為