高溫高精度電阻測(cè)量系統(tǒng)及Fe-,78-Si-,9-B-,13-非晶合金晶化過程中熱電性能分析.pdf

1、根據(jù)電阻值的大小不同，有很多種測(cè)量電阻的方法。但是，在測(cè)量微電阻時(shí)，常用的測(cè)量小電阻的開爾文電橋就無法滿足要求，所以需要一種測(cè)量微電阻的系統(tǒng)。在需要測(cè)量高溫下的電阻值時(shí)，一般選用熱電偶。這是因?yàn)闊犭娕嫉慕Y(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)溫范圍廣(低至負(fù)180 ℃，高至1800 ℃)、耐高溫、準(zhǔn)確度高、價(jià)格便宜、使用方便、適于遠(yuǎn)距離測(cè)量與自動(dòng)控制。
　　 在高溫高精度電阻測(cè)量中，利用Keithley2182納伏表監(jiān)測(cè)溫度和電壓，利用PF66M型數(shù)字多用

2、表監(jiān)測(cè)電流和提供電流。結(jié)合RS232串口，利用基于Delphi的SPComm串口通信控件，就可以實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與電阻測(cè)量系統(tǒng)之間的通訊。為了提高測(cè)量的精度，還需要使用四線測(cè)量法和反向電流法。反向電流法是為了消除電阻測(cè)量中的熱電勢(shì)。PF66M數(shù)字多用表提供電流，使用一組繼電器實(shí)現(xiàn)直流電路電流反向。為了解決使用電流反向法必須要限制采樣間隔的問題，對(duì)繼電器實(shí)施定時(shí)控制，在編程中使用Delphi中的時(shí)鐘控件(timer)，每4秒鐘執(zhí)行一次程序。4秒

3、鐘的時(shí)間間隔可以滿足電流反向消除熱電勢(shì)的要求。
　　 利用高溫高精度電阻測(cè)量系統(tǒng)及其數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，持續(xù)10～12小時(shí)測(cè)試了Fe、Cu、Al在常溫下的電阻值，由電阻值的變化，本文認(rèn)為系統(tǒng)具有很好的穩(wěn)定性。在電阻測(cè)量中，用電流反向法消除了雜散熱電勢(shì)的影響，為了更加全面的分析Fe78Si9B13非晶合金晶化過程中的結(jié)構(gòu)變化，利用逆向思維，分析了Fe78Si9B13非晶合金在晶化過程中的雜散熱電勢(shì)的變化規(guī)律。并且進(jìn)一步的測(cè)量了Cu與Fe