電子元器件抗中子輻射性能評(píng)估方法初探.pdf

1、抗輻射能力評(píng)估是一個(gè)涉及到多學(xué)科、多領(lǐng)域的復(fù)雜問(wèn)題。本論文建立起了一套器件級(jí)的抗輻射性能評(píng)估的完整的體系。該體系不僅可以對(duì)器件的抗輻射性能進(jìn)行評(píng)估，更重要的是它考慮到系統(tǒng)評(píng)估的需要，可以服務(wù)于系統(tǒng)評(píng)估。這個(gè)完整的體系主要包括四部分：輻射試驗(yàn)方法和測(cè)試技術(shù)研究；輻射損傷機(jī)理的分析；輻射作用下器件性能參數(shù)不確定性的分析；輻射作用下器件生存概率的研究。 論文以中子輻射作用下的晶體管和三端穩(wěn)壓器為研究對(duì)象對(duì)這四方面的工作開(kāi)展了詳細(xì)的研究

2、。利用自主研制的通用效應(yīng)信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)，不僅可以獲得完整的輻射效應(yīng)曲線，更可以大大增加試驗(yàn)的樣本量。對(duì)三端穩(wěn)壓器的中子輻射效應(yīng)進(jìn)行了深入分析，認(rèn)為中子輻射引起晶體管放大倍數(shù)的減少是引起三端穩(wěn)壓器輸出電壓變化最關(guān)鍵的因素。對(duì)中子輻射作用下晶體管和三端穩(wěn)壓器的敏感參數(shù)的不確定性的分布模型進(jìn)行了研究，結(jié)論不同于以前的對(duì)數(shù)正態(tài)分布的假設(shè)。用數(shù)學(xué)期望和方差對(duì)這種不確定性進(jìn)行了定量描述，各種方法的比較表明在抗輻射加固評(píng)估中采用隨機(jī)加權(quán)法評(píng)定數(shù)學(xué)期望和

3、方差是最佳選擇。論文還把數(shù)學(xué)期望和方差的結(jié)果運(yùn)用到QMU方法和指數(shù)(裕度)法中。采用各種方法對(duì)晶體管和三端穩(wěn)壓器在中子輻射下的生存概率進(jìn)行了點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)，針對(duì)輻射作用下敏感參數(shù)可能不遵從常見(jiàn)的分布模型的情況，論文利用基于bootstrap的蒙特卡洛仿真方法對(duì)經(jīng)典的非參數(shù)法進(jìn)行了改進(jìn)。論文發(fā)現(xiàn)可以用對(duì)數(shù)正態(tài)分布很好地?cái)M合生存概率和中子注量的關(guān)系，利用這一關(guān)系，可以求出任意生存概率所對(duì)應(yīng)的中子注量及其置信限。 針對(duì)抗輻射加固評(píng)估