基于光電轉(zhuǎn)換技術(shù)的電流探頭設(shè)計與校準(zhǔn).pdf

1、在300MHz以下，直接電流注入技術(shù)是對導(dǎo)彈進行EMC測試的簡單、經(jīng)濟、有效的方法，可代替費用昂貴的自由場照射測試法<'[1]>。相對于開闊場測試法，直接電流注入測試法的優(yōu)越性在于：在低頻段，在低輸入功率的情況下，測試裝置內(nèi)可產(chǎn)生很高的場強(在200MHz頻率下，輸入5w功率將產(chǎn)生大于200V/m的場強)，不必像開闊場測量要求有很大的功率源。 為評價直接電流注入與自由場照射之間的等價性，需用電流探頭測量受試導(dǎo)體表面在直接電流注入

2、裝置內(nèi)感應(yīng)產(chǎn)生的表面電流。由于該電流探頭工作于強電磁場環(huán)境中，信號處理和傳輸易受干擾，而且普通的同軸電纜自身會對測試裝備內(nèi)原電磁場分布產(chǎn)生嚴(yán)重的擾亂。與電纜數(shù)據(jù)傳輸相比，光纖傳輸幾乎不受電磁場干擾，而且光纖不會擾亂被測空間內(nèi)的原有場分布。 本文設(shè)計制作了基于光/電轉(zhuǎn)換技術(shù)的表面電流探頭并進行校準(zhǔn)和測試，其工作頻率為0.3～300MHz。在強電磁場環(huán)境下，該系統(tǒng)有抗干擾能力強、測試精度高的特點。 本文簡要介紹了電流注入法的