面向?qū)ο筌浖谢貧w測(cè)試錯(cuò)誤定位方法的研究.pdf

1、在軟件技術(shù)迅猛發(fā)展的今天，軟件測(cè)試作為軟件開(kāi)發(fā)重要環(huán)節(jié)的同時(shí)，也成為了保證軟件質(zhì)量的重要手段。在面向?qū)ο筌浖拈_(kāi)發(fā)過(guò)程中，需要不斷的測(cè)試和修改，在修改的過(guò)程容易引入新的錯(cuò)誤，這就需要進(jìn)行回歸測(cè)試?；貧w測(cè)試的最終目的是找出引起錯(cuò)誤的原因。目前，開(kāi)發(fā)人員通過(guò)追蹤變量值定位錯(cuò)誤，這樣耗時(shí)費(fèi)力且低效，所以如何高效地定位出面向?qū)ο筌浖谢貧w測(cè)試的錯(cuò)誤是一個(gè)亟待解決的課題。 本文首先介紹了面向?qū)ο筌浖y(cè)試和回歸測(cè)試技術(shù)，重點(diǎn)介紹了面向?qū)ο筌?/p>

2、件中回歸測(cè)試的方法和回歸測(cè)試的詳細(xì)步驟。 接著，本文介紹三種錯(cuò)誤定位方法：基于程序切片錯(cuò)誤定位的方法，基于程序頻譜回歸測(cè)試錯(cuò)誤定位的方法和基于程序代碼覆蓋錯(cuò)誤定位的方法，并對(duì)這三種錯(cuò)誤定位方法進(jìn)行分析，比較它們的優(yōu)缺點(diǎn)。 在上述研究基礎(chǔ)上，本文提出了一種新的面向?qū)ο筌浖谢貧w測(cè)試錯(cuò)誤定位方法，該方法基于程序代碼覆蓋和原子操作相結(jié)合的方法，繼承了代碼覆蓋和原子操作的優(yōu)點(diǎn)，并彌補(bǔ)這兩種方法的不足。進(jìn)一步地，本文對(duì)回歸測(cè)試錯(cuò)誤