微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、近年來，微波技術(shù)正在以飛快的速度向前發(fā)展，各種微波天線和微波器件得到廣泛應(yīng)用。與之相關(guān)的各種高性能微波介質(zhì)材料的研究與開發(fā)，已引起許多科技工作者的高度重視和興趣。為適應(yīng)這一發(fā)展，迫切需要研究微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試技術(shù)。本論文研究微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試方法和技術(shù)，所作的工作具有理論意義和實(shí)用價(jià)值。 本文先以測(cè)量材料介電常數(shù)的波導(dǎo)多端口技術(shù)和四態(tài)四端口微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)理論為基礎(chǔ)，研究了低損耗介質(zhì)材料的部分填充介電參數(shù)測(cè)量方法，可

2、使低損耗微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試樣品的規(guī)格要求放寬。實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果表明了部分填充介電參數(shù)測(cè)量方法的可行性。 然后，研究了同軸探針對(duì)稱激勵(lì)矩形波導(dǎo)模式譜圖，證明了探針對(duì)稱激勵(lì)情況下矩形波導(dǎo)中不存在m為偶數(shù)的模式，這一結(jié)論可以用于拓展微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的工作頻帶。采用實(shí)驗(yàn)結(jié)果，驗(yàn)證了理論分析的正確性。還采用矩形波導(dǎo)四態(tài)四端口微波介質(zhì)材料參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)幾種微波介質(zhì)材料進(jìn)行了測(cè)量，測(cè)試結(jié)果表明，在對(duì)稱激勵(lì)情況下，可成功地將3cm波導(dǎo)四